ИСПОЛЬЗОВАНИЕ ДИФРАКЦИИ НЕЙТРОНОВ И СИНХРОТРОННОГО ИЗЛУЧЕНИЯ ДЛЯ АНАЛИЗА КРИСТАЛЛОГРАФИЧЕСКОЙ ТЕКСТУРЫ ПОЛИКРИСТАЛЛИЧЕСКИХ МАТЕРИАЛОВ

Исаенкова, М. Г.; Крымская, О. А.; Фесенко, В. А.; Петров, М. И.; Козлов, И. В.; Козлов, Илья Владимирович; Фесенко, Владимир Александрович; Крымская, Ольга Александровна; Петров, Марк Игоревич; Исаенкова, Маргарита Геннадьевна

Publication:
ИСПОЛЬЗОВАНИЕ ДИФРАКЦИИ НЕЙТРОНОВ И СИНХРОТРОННОГО ИЗЛУЧЕНИЯ ДЛЯ АНАЛИЗА КРИСТАЛЛОГРАФИЧЕСКОЙ ТЕКСТУРЫ ПОЛИКРИСТАЛЛИЧЕСКИХ МАТЕРИАЛОВ

dc.contributor.author	Исаенкова, М. Г.
dc.contributor.author	Крымская, О. А.
dc.contributor.author	Фесенко, В. А.
dc.contributor.author	Петров, М. И.
dc.contributor.author	Козлов, И. В.
dc.contributor.author	Козлов, Илья Владимирович
dc.contributor.author	Фесенко, Владимир Александрович
dc.contributor.author	Крымская, Ольга Александровна
dc.contributor.author	Петров, Марк Игоревич
dc.contributor.author	Исаенкова, Маргарита Геннадьевна
dc.date.accessioned	2025-09-17T13:06:53Z
dc.date.available	2025-09-17T13:06:53Z
dc.date.issued	2024
dc.description.abstract	В работе рассмотрены вопросы обработки дебаевских колец, полученных при дифракции нейтронов и синхротронного излучения, для построения обобщенных прямых полюсных фигур. Использование нейтронного пучка или синхротронного излучения и 2D-детектора существенно упрощает анализ кристаллографической текстуры и описание субструктурного состояния как деформированных, так и отожженных поликристаллических материалов. Показано, что неоднородность субструктуры деформированного материала предопределяет развитие её совершенствования на стадии полигонизации, рекристаллизации и фазовых превращений
dc.identifier.citation	ИСПОЛЬЗОВАНИЕ ДИФРАКЦИИ НЕЙТРОНОВ И СИНХРОТРОННОГО ИЗЛУЧЕНИЯ ДЛЯ АНАЛИЗА КРИСТАЛЛОГРАФИЧЕСКОЙ ТЕКСТУРЫ ПОЛИКРИСТАЛЛИЧЕСКИХ МАТЕРИАЛОВ [Text]. / ИСАЕНКОВА М.Г. [и др.] // Сборник научных трудов X Международной конференции. Москва, ЛаПлаз-2024. - 2024. - С. 248
dc.identifier.uri	https://openrepository.mephi.ru/handle/123456789/37980
dc.publisher	НИЯУ МИФИ
dc.title	ИСПОЛЬЗОВАНИЕ ДИФРАКЦИИ НЕЙТРОНОВ И СИНХРОТРОННОГО ИЗЛУЧЕНИЯ ДЛЯ АНАЛИЗА КРИСТАЛЛОГРАФИЧЕСКОЙ ТЕКСТУРЫ ПОЛИКРИСТАЛЛИЧЕСКИХ МАТЕРИАЛОВ
dc.type	Thesis
dspace.entity.type	Publication
relation.isAuthorOfPublication	97bb6e71-a1be-4f19-92b9-b030a24e9951
relation.isAuthorOfPublication	064d453e-b297-40ee-80fe-918a112bada8
relation.isAuthorOfPublication	ea3abf21-1de0-4fc2-8e14-217100083400
relation.isAuthorOfPublication	4f9cc881-0c96-4032-b0fc-160fed0ac7c5
relation.isAuthorOfPublication	ccfd8772-1b1c-40c8-9274-7b1c3334634a
relation.isAuthorOfPublication.latestForDiscovery	97bb6e71-a1be-4f19-92b9-b030a24e9951
relation.isOrgUnitOfPublication	ba0b4738-e6bd-4285-bda5-16ab2240dbd1
relation.isOrgUnitOfPublication.latestForDiscovery	ba0b4738-e6bd-4285-bda5-16ab2240dbd1
relation.isProjectOfPublication	502e1762-3c26-41f3-a2fb-f058c6d0e381
relation.isProjectOfPublication.latestForDiscovery	502e1762-3c26-41f3-a2fb-f058c6d0e381