(НИЯУ МИФИ, 2024) Исаенкова, М. Г.; Крымская, О. А.; Фесенко, В. А.; Петров, М. И.; Козлов, И. В.; Козлов, Илья Владимирович; Фесенко, Владимир Александрович; Крымская, Ольга Александровна; Петров, Марк Игоревич; Исаенкова, Маргарита Геннадьевна
В работе рассмотрены вопросы обработки дебаевских колец, полученных при дифракции нейтронов и синхротронного излучения, для построения обобщенных прямых полюсных фигур. Использование нейтронного пучка или синхротронного излучения и 2D-детектора существенно упрощает анализ кристаллографической текстуры и описание субструктурного состояния как деформированных, так и отожженных поликристаллических материалов. Показано, что неоднородность субструктуры деформированного материала предопределяет развитие её совершенствования на стадии полигонизации, рекристаллизации и фазовых превращений