Publication: ИСПОЛЬЗОВАНИЕ ДИФРАКЦИИ НЕЙТРОНОВ И СИНХРОТРОННОГО ИЗЛУЧЕНИЯ ДЛЯ АНАЛИЗА КРИСТАЛЛОГРАФИЧЕСКОЙ ТЕКСТУРЫ ПОЛИКРИСТАЛЛИЧЕСКИХ МАТЕРИАЛОВ
Дата
2024
Авторы
Исаенкова, М. Г.
Крымская, О. А.
Фесенко, В. А.
Петров, М. И.
Козлов, И. В.
Journal Title
Journal ISSN
Volume Title
Издатель
НИЯУ МИФИ
Аннотация
В работе рассмотрены вопросы обработки дебаевских колец, полученных при дифракции нейтронов и синхротронного излучения, для построения обобщенных прямых полюсных фигур. Использование нейтронного пучка или синхротронного излучения и 2D-детектора существенно упрощает анализ кристаллографической текстуры и описание субструктурного состояния как деформированных, так и отожженных поликристаллических материалов. Показано, что неоднородность субструктуры деформированного материала предопределяет развитие её совершенствования на стадии полигонизации, рекристаллизации и фазовых превращений
Описание
Ключевые слова
Цитирование
ИСПОЛЬЗОВАНИЕ ДИФРАКЦИИ НЕЙТРОНОВ И СИНХРОТРОННОГО ИЗЛУЧЕНИЯ ДЛЯ АНАЛИЗА КРИСТАЛЛОГРАФИЧЕСКОЙ ТЕКСТУРЫ ПОЛИКРИСТАЛЛИЧЕСКИХ МАТЕРИАЛОВ [Text]. / ИСАЕНКОВА М.Г. [и др.] // Сборник научных трудов X Международной конференции. Москва, ЛаПлаз-2024. - 2024. - С. 248