Publication:
Modeling errors of the misfet-based sensors' characteristics

Дата
2019
Авторы
Podlepetsky, B.
Samotaev, N.
Journal Title
Journal ISSN
Volume Title
Издатель
Научные группы
Организационные подразделения
OrgUnit Logo
Организационная единица
Институт нанотехнологий в электронике, спинтронике и фотонике
Институт ИНТЭЛ занимается научной деятельностью и подготовкой специалистов в области исследования физических принципов, проектирования и разработки технологий создания компонентной базы электроники гражданского и специального назначения, а также построения современных приборов на её основе. ​Наша основная цель – это создание и развитие научно-образовательного центра мирового уровня в области наноструктурных материалов и устройств электроники, спинтроники, фотоники, а также создание эффективной инновационной среды в области СВЧ-электронной и радиационно-стойкой компонентной базы, источников ТГц излучения, ионно-кластерных технологий материалов.​
Выпуск журнала
Аннотация
© 2019 IEEE.The accuracy of circuits', electrical and electrophysical models of MIS transistor sensors' elements, taking into account the errors of simplifying assumptions, approximations, extrapolations and experimental dispersions' characteristics in determining the parameters of the models and measured physical quantity is estimated.
Описание
Ключевые слова
Цитирование
Podlepetsky, B. Modeling errors of the misfet-based sensors' characteristics / Podlepetsky, B., Samotaev, N. // 2019 IEEE 31st International Conference on Microelectronics, MIEL 2019 - Proceedings. - 2019. - P. 137-140. - 10.1109/MIEL.2019.8889573
URI
https://www.doi.org/10.1109/MIEL.2019.8889573
 https://www.scopus.com/record/display.uri?eid=2-s2.0-85075359538&origin=resultslist
 http://gateway.webofknowledge.com/gateway/Gateway.cgi?GWVersion=2&SrcAuth=Alerting&SrcApp=Alerting&DestApp=WOS_CPL&DestLinkType=FullRecord&UT=WOS:000565455600027
 https://openrepository.mephi.ru/handle/123456789/18906
Коллекции
Публикации