Publication:
Impact of Extrinsic Interface Traps and Doping Atoms on Conductivity of Graphene Field Effect Devices

Дата
2019
Авторы
Zebrev, G. I.
Shostachenko, S. A.
Journal Title
Journal ISSN
Volume Title
Издатель
Научные группы
Организационные подразделения
OrgUnit Logo
Организационная единица
Институт нанотехнологий в электронике, спинтронике и фотонике
Институт ИНТЭЛ занимается научной деятельностью и подготовкой специалистов в области исследования физических принципов, проектирования и разработки технологий создания компонентной базы электроники гражданского и специального назначения, а также построения современных приборов на её основе. ​Наша основная цель – это создание и развитие научно-образовательного центра мирового уровня в области наноструктурных материалов и устройств электроники, спинтроники, фотоники, а также создание эффективной инновационной среды в области СВЧ-электронной и радиационно-стойкой компонентной базы, источников ТГц излучения, ионно-кластерных технологий материалов.​
Выпуск журнала
Аннотация
© Published under licence by IOP Publishing Ltd. Near-interfacial oxide traps and chemical impurities on the graphene surface or at the graphene-dielectric interface can be a source of intentional or unintentional doping of graphene sheet. The efficiency of such chemical doping can vary in a wide range depending on parameters of graphene field effect devices. Mechanisms of such sensitivity of doping efficiency to the device characteristics need to be understood. The objective of this paper is to theoretically derive the analytical relations, adapted to the explicit calculation of graphene chemical doping.
Описание
Ключевые слова
Цитирование
Zebrev, G. I. Impact of Extrinsic Interface Traps and Doping Atoms on Conductivity of Graphene Field Effect Devices / Zebrev, G.I., Shostachenko, S.A. // IOP Conference Series: Materials Science and Engineering. - 2019. - 475. - № 1. - 10.1088/1757-899X/475/1/012013
URI
https://www.doi.org/10.1088/1757-899X/475/1/012013
 https://www.scopus.com/record/display.uri?eid=2-s2.0-85062683589&origin=resultslist
 https://openrepository.mephi.ru/handle/123456789/16666
Коллекции
Публикации