Publication:
Проектирование элементов КМОП микросхем, выполненных по технологии "кремний на изоляторе" с проектными нормами 0,5-0,35 МКМ, с повышенной стойкостью к воздействию тяжелых заряженных частиц

dc.contributor.advisorОсипенко, П. Н.
dc.contributor.authorШунков, В. Е.
dc.date.accessioned2024-08-13T08:58:17Z
dc.date.available2024-08-13T08:58:17Z
dc.date.issued2012
dc.descriptionавтореф. дис... кандидата техн. наук (05.13.05 - элементы и устройства ВТ и систем управления)
dc.identifier.citationШунков, В. Е. Проектирование элементов КМОП микросхем, выполненных по технологии "кремний на изоляторе" с проектными нормами 0,5-0,35 МКМ, с повышенной стойкостью к воздействию тяжелых заряженных частиц : автореф. дис... кандидата техн. наук (05.13.05 - элементы и устройства ВТ и систем управления) / В. Е. Шунков ; рук. работы П. Н. Осипенко. - Москва : НИЯУ МИФИ, 2012. - 22 с.
dc.identifier.urihttps://openrepository.mephi.ru/handle/123456789/13211
dc.identifier.urihttps://lib-repository.mephi.ru/abstracts_of_dissertations_mephi/Shunkov_Proektirovanie_elementov_KMOP_mikroshem_2012.pdf
dc.languagerusru
dc.publisherНИЯУ МИФИ
dc.relation.ispartof22 c.
dc.subjectАвтор МИФИ
dc.subjectИонизирующее излучение
dc.subjectКМОП
dc.subjectОтдельные ядерные частицы
dc.subjectКремний на изоляторе
dc.subject05.13.05 - элементы и устройства ВТ и систем управления
dc.titleПроектирование элементов КМОП микросхем, выполненных по технологии "кремний на изоляторе" с проектными нормами 0,5-0,35 МКМ, с повышенной стойкостью к воздействию тяжелых заряженных частиц
dc.typeАвтореферат диссертации канд. техн. наук
dspace.entity.typePublication
Файлы
Original bundle
Теперь показываю 1 - 1 из 1
Загружается...
Уменьшенное изображение
Name:
Shunkov_Proektirovanie_elementov_KMOP_mikroshem_2012.pdf
Size:
994.24 KB
Format:
Adobe Portable Document Format
Description: