Publication: Проектирование элементов КМОП микросхем, выполненных по технологии "кремний на изоляторе" с проектными нормами 0,5-0,35 МКМ, с повышенной стойкостью к воздействию тяжелых заряженных частиц
Дата
2012
Авторы
Шунков, В. Е.
Journal Title
Journal ISSN
Volume Title
Издатель
НИЯУ МИФИ
Аннотация
Описание
автореф. дис... кандидата техн. наук (05.13.05 - элементы и устройства ВТ и систем управления)
Ключевые слова
Автор МИФИ , Ионизирующее излучение , КМОП , Отдельные ядерные частицы , Кремний на изоляторе , 05.13.05 - элементы и устройства ВТ и систем управления
Цитирование
Шунков, В. Е. Проектирование элементов КМОП микросхем, выполненных по технологии "кремний на изоляторе" с проектными нормами 0,5-0,35 МКМ, с повышенной стойкостью к воздействию тяжелых заряженных частиц : автореф. дис... кандидата техн. наук (05.13.05 - элементы и устройства ВТ и систем управления) / В. Е. Шунков ; рук. работы П. Н. Осипенко. - Москва : НИЯУ МИФИ, 2012. - 22 с.