Персона: Колосова, Анна Сергеевна
Загружается...
Email Address
Birth Date
Научные группы
Организационные подразделения
Организационная единица
Другие подразделения НИЯУ МИФИ
Структурные подразделения НИЯУ МИФИ, не включенные в состав институтов и факультетов.
Статус
Фамилия
Колосова
Имя
Анна Сергеевна
Имя
4 results
Результаты поиска
Теперь показываю 1 - 4 из 4
- ПубликацияОткрытый доступВозможность применения алгоритмов машинного обучения для прогнозирования качества ЭКБ И РЭА(2023) Колосова, А. С.; Каменева, А. С. ; Чуков, Г. В. ; Никифоров, А. Ю. ; Каменева, Анна Сергеевна; Чуков, Георгий Викторович; Никифоров, Александр Юрьевич; Колосова, Анна СергеевнаРассмотрены основные алгоритмы и методы машинного обучения и проведен анализ возможности их применения для оценки качества как основного элемента обеспечения доверенности выпускаемой электронной компонентной базы (ЭКБ) и радиоэлектронной аппаратуры (РЭА). Приводятся примеры успешного применения данных алгоритмов для улучшения таких показателей качества ЭКБ как надежность, стойкость к внешним воздействующим факторам и др. При проведении исследований стойкости ЭКБ к внешним воздействующим факторам, необходимой является процедура идентификации образцов ЭКБ методом рентгеноскопии, для выявления возможной неоднородности в конструкции образцов, принадлежащих к одной партии. Неоднородность партии может влиять на показатели надежности и стойкости к внешним воздействующим факторам, в связи с чем актуальной задачей является построение надежной системы идентификации. В статье предложен подход к решению задачи поиска неоднородности партии при идентификации образцов ЭКБ с помощью рентгеноскопии, в том числе как метода обеспечения доверенности, с помощью сверточной нейронной сети и алгоритмов кластеризации.
- ПубликацияТолько метаданныеHeavy-Ion-Induced Single Event Burnout in SiC Schottky Diodes: Safe Operating Area(2019) Gromova, P. S.; Davydov, G. G.; Tararaksin, A. S.; Kolosova, A. S.; Boychenko, D. V.; Давыдов, Георгий Георгиевич; Тарараксин, Александр Сергеевич; Колосова, Анна Сергеевна; Бойченко, Дмитрий Владимирович© 2019 IEEE.Heavy-ion-induced single event burnout (SEB) is studied experimentally for several types of 4H-SiC Schottky power diodes with various bias voltages applied. Safe operating voltage area for each type was defined and analyzed. The comparison with Si power devices was carried out.
- ПубликацияТолько метаданныеAn Automated System of Lowered Temperature Setting for Long-Term Radiation Experiments(2021) Muzafarov, M. V.; Kolosova, A. S.; Pechenkin, A. A.; Davydov, G. G.; Gromova, P. S.; Boychenko, D. V.; Demidova, A. V.; Музафаров, Михаил Валентинович; Колосова, Анна Сергеевна; Печенкин, Александр Александрович; Давыдов, Георгий Георгиевич; Бойченко, Дмитрий Владимирович© 2021 IEEE.A description of the system for setting a lowered environment temperature based on Peltier modules is presented. The development was carried out taking into account the peculiarities of the radiation test: minimum distance from exposure source to DUT; stand-alone use during long-term radiation test; minimum overall dimensions, transportability and flexibility when conducting tests on various exposure sources. Cooling box consists of 3-level stacked assembly of the Peltier modules, which is cooled by liquid refrigerant. Control of the assembly of Peltier modules was performed according to proportional integral and differential algorithm, provided by microcontroller with feedbacks on Pt thermoresistors. The system provides temperature stabilization of the DUT up to 23×17×12 mm in size and with released heat power up to 0.4 W at minus (60 ± 3) °C. Temperature establishing time is less than 10 minutes. Typical power consumption of developed system is about 500W.
- ПубликацияТолько метаданныеProviding the Low Temperature of the Heat-Generating Power Devices during the Long-Term Experiment(2021) Muzafarov, M. V.; Kolosova, A. S.; Pechenkin, A. A.; Davydov, G. G.; Gromova, P. S.; Boychenko, D. V.; Музафаров, Михаил Валентинович; Колосова, Анна Сергеевна; Печенкин, Александр Александрович; Давыдов, Георгий Георгиевич; Бойченко, Дмитрий Владимирович