2023, Калашникова, М. О. , Торшин, Р. С. , Сорокоумов, Г. С. , Бойченко, Д. В. , Демидов, Александр Алексеевич, Бойченко, Дмитрий Владимирович, Сорокоумов, Георгий Сергеевич, Торшин, Роман Сергеевич

В работе проводилось исследование зависимости основных спектральных параметров аналого-цифровых преобразователей (АЦП) архитектуры сигма-дельта от поглощенной дозы. В исследованиях контролировались основные критериальные параметры АЦП: динамические, статические и электрические. Основными динамическими характеристиками сигма-дельта АЦП являются отношение сигнал-шум (SNR), динамический диапазон, свободный от гармоник (SFDR), отношение сигнала к шуму и искажениям (SINAD) и полные нелинейные искажения (THD), которые определялись по спектру оцифрованного синусоидального сигнала с помощью быстрого преобразования Фурье (БПФ). Статические параметры (интегральная нелинейность (ИНЛ), ошибки смещения и усиления) определялись с помощью прямой, линеаризирующей передаточную характеристику, по методике, описанной в стандарте IEEE Standard for Terminology and Test Methods for Analog-to-Digital Converters. В качестве контрольно-измерительного оборудования для тестирования критериальных параметров использовались модульные измерительные приборы фирмы National Instruments. Получены сравнительные данные о дозовой зависимости статических и динамических параметров микросхем сигма-дельта АЦП и сигма-дельта модулятора. На основании результатов сделан вывод, что наиболее чувствительными параметрами сигма-дельта АЦП к дозовому воздействию являются динамические параметры, поэтому при оценке стойкости сигма-дельта АЦП к воздействию поглощенной дозы необходим контроль его спектральных характеристик.

2019, Akhmetov, A. O., Sorokoumov, G. S., Smolin, A. A., Bobrovsky, D. V., Boychenko, D. V., Nikiforov, A. Y., Сорокоумов, Георгий Сергеевич, Бобровский, Дмитрий Владимирович, Бойченко, Дмитрий Владимирович, Никифоров, Александр Юрьевич

© 2019 IEEE.The paper presents single event upset (SEU) experimental results in Spartan-6 FPGA due to direct and indirect proton ionization. High energy proton beam and aluminum foils were used to decrease proton energy down to 1.. 20 MeV to observe proton direct ionization upsets.

2021, Vaskin, R. E., Kalashnikov, V. D., Sorokoumov, G. S., Boychenko, D. V., Васькин, Роман Евгеньевич, Калашников, Владислав Дмитриевич, Сорокоумов, Георгий Сергеевич, Бойченко, Дмитрий Владимирович

© 2021 IEEE.Modern transceivers are widely used in the design of the on-board equipment of spacecraft. The effects of space ionizing radiation can lead to failures in operation of transceivers, leading to a loss of the transmitted data. It is necessary to provide radiation hardness assurance of transceivers in order to evaluate the rate of upsets in the operation of transceivers used the on-board equipment of spacecraft. The paper describes main types of failures observed in interface ICs operating in space radiation environment. The classification of functional failures in transceivers exposed to ionizing radiation and monitoring methods are presented in this paper. Parameters of transceivers that has to be monitored during radiation testing are listed. We reviewed National Instruments equipment used in radiation testing of different types of transceivers. A measuring system based on this equipment was used for radiation testing of TLK2711 transceiver in loop operation mode over a serial data channel.