Персона:
Цирков, Артем Николаевич

Profile Picture
Email Address
Birth Date
Научные группы
Организационные подразделения
OrgUnit Logo
Организационная единица
Другие подразделения НИЯУ МИФИ
Структурные подразделения НИЯУ МИФИ, не включенные в состав институтов и факультетов.
Статус
Фамилия
Цирков
Имя
Артем Николаевич
Имя

Фильтры

2021 - 20234
31
4
Сброс фильтров

Настройки

Результаты поиска

Теперь показываю 1 - 4 из 4
  • Уменьшенное изображение
    Публикация
    Открытый доступ
    ПРИМЕНЕНИЕ ТЕХНОЛОГИИ МАШИННОГО ЗРЕНИЯ ДЛЯ ПОВЫШЕНИЯ ТОЧНОСТИ СФОКУСИРОВАННОГО ЛАЗЕРНОГО ВОЗДЕЙСТВИЯ НА МИКРОЭЛЕКТРОННЫЕ СТРУКТУРЫ В ПРОЦЕССАХ ИССЛЕДОВАНИЙ И МИКРООБРАБОТКИ
    (НИЯУ МИФИ, 2023) Можаев, Р. К.; Печенкин, А. А.; Цирков, А. А.; Белозеров, К. Г.; Лукашин, В. П.; Балуев, А, А.; Балуев, Арсений Андреевич; Лукашин, Владислав Павлович; Цирков, Артем Николаевич; Печенкин, Александр Александрович; Можаев, Роман Константинович
    Машинное зрение – это область искусственного интеллекта, занимающаяся обработкой изображений и видеопотока при помощи специальных алгоритмов. Это позволяет устройствам анализировать визуальную информацию. Машинное зрение помогает в таких задачах, как распознавание образов, сегментация изображений, обнаружение объектов и слежение за ними. В микроскопии машинное зрение играет важную роль, в частности в лазерной сканирующей микроскопии (LSM). Лазерная сканирующая микроскопия, лазерное нанесение надрезов и лазерная коррекция топологии полупроводниковых кристаллов являются важными технологическими процессами в производстве, контроле и наладке полупроводниковых кристаллов, как на отладочных образцах, так и в серийных партиях пластин. Лазерное воздействие позволяет не только механически разделять кристаллы, но и осуществлять более деликатные и малоинвазивные воздействия, в частности подстройки сопротивления тонкопленочных резисторов или пережигание перемычек, необходимых для конфигурирования схемы и отключения неиспользуемых блоков кристалла. В работе проведен анализ основных параметров системы позиционирования в составе лазерной сканирующей установки, их влияние на точность сканирования и координат воздействия сфокусированным излучением в контрольных точках. Описаны принципы алгоритмов машинного зрения при работе с изображением сканируемого объекта и результаты апробации в задаче автоматизированного лазерного пережигания перемычек на полупроводниковой пластине. Поскольку число перемычек может достигать сотен тысяч, а системы позиционирования имеют значительные погрешности машинное зрение позволяет корректировать погрешности позиционирования и повысить точность лазерного воздействия на любом участке и этапе сканирования, что значительно повышает качество итогового результата лазерного воздействия.
  • Уменьшенное изображение
    Публикация
    Только метаданные
    Automation of Laser Single-Event Effect Testing of Integrated Circuits for Space Missions
    (2021) Tsirkov, A. N.; Savchenkov, D. V.; Novikov, A. A.; Pechenkin, A. A.; Цирков, Артем Николаевич; Печенкин, Александр Александрович
    © 2021 IEEE.a division of labor plays significant role in the efficiency of laser SEE Testing. The highest efficiency can be achieved when testers fulfill their roles in a global task: one is engaged in debugging and monitoring the testing progress at the facility, another one participates in the preparation and performance monitoring of the device under test (DUT). This article describes the architecture of our software for SEE testing that consists of two parts: the one responsible for the functional testing of the DUT and another one responsible for the SEE testing logic. Separating these two parts allows them to be developed independently by different specialists. The DUT part of software controls a wide variety of equipment including National Instruments PXI/PXIe modules which are commonly used for functional testing of the devices under test. The laser SEE testing part of software controls all parts of the laser facility (laser beam positioning and pulse synchronization, visualization of exposure area, etc.) and the acquisition of laser SEE testing data. One of the main points of this paper is the idea of communication between the apps on different platforms (Microsoft.NET and NI LabVIEW) over local area network.
  • Уменьшенное изображение
    Публикация
    Только метаданные
    Non-Contact Temperature Setting System for VLSI with High Heat Dissipation
    (2022) Kostyuchenko, D.; Bobrovskiy, D.; Pechenkin, A.; Marfin, V.; Tsirkov, A.; Karakozov, A.; Костюченко, Денис Сергеевич; Бобровский, Дмитрий Владимирович; Печенкин, Александр Александрович; Цирков, Артем Николаевич
    © 2022 IEEE.It was required to develop a non-contact cooling system for conducting radiation research of VLSI with high heat generation. During the development process, various available methods for cooling products were considered and tested: immersion cooling and a cold-box - these methods did not bring the desired result.As a result, a cooling system was assembled based on the process of blowing the VLSI crystal with high-pressure compressed air. The system was based on an air compressor. The compressor was supplemented with external sensors to control the temperature of the samples and a control system for the output air flow. The entire process of setting the sample temperature was automatically controlled from a personal computer. The software and hardware parts of the solution are presented in this article.This non-contact cooling system has shown itself well in the conditions of real VLSI radiation research at physical facilities. However, in the future it is planned to improve a number of parameters in order to develop this cooling system to increase its efficiency.
  • Уменьшенное изображение
    Публикация
    Только метаданные
    Methods of catastrophic failure prevention during the SEL-sensitivity estimation of IC
    (2022) Tsirkov, A. N.; Цирков, Артем Николаевич
    © 2022 IEEE.The suitability of electronics for space application greatly depends on ICs tolerance to single event effects, such as latchup (SEL), caused by heavy ions. Such events can lead to irreversible failures if specific prevention actions are not taken. This paper presents the results of a study of ICs functional (hard) failures prevention method. Important points are presented when configuring the protection scheme.This paper describes the use of a resistor in a power circuit and the developed system of a fast circuit breaker. The research was carried out on picosecond focused laser facility (PICO-4).