Персона:
Печенкин, Александр Александрович

Организационные подразделения

Организационная единица

Другие подразделения НИЯУ МИФИ

Структурные подразделения НИЯУ МИФИ, не включенные в состав институтов и факультетов.

Фамилия

Печенкин

Имя

Александр Александрович

Полная страница элемента

Результаты поиска

Теперь показываю 1 - 8 из 8

Только метаданные
Radiation Hardness Evaluation of LEDs Based on InGaN, GaN and AlInGaP Heterostructures
(2019) Ukolov, D. S.; Chirkov, N. A.; Mozhaev, R. K.; Pechenkin, A. A.; Можаев, Роман Константинович; Печенкин, Александр Александрович
© 2019 IEEE.The radiation hardness results of light emitting diodes (LED) in green, blue and red regions of the spectrum and in white, based on InGaN, GaN and AlInGaP structures are presented. The technical aspects of monitoring parameters during exposure are described, and LEDs response to various radiation exposures are given.
Открытый доступ
ПРИМЕНЕНИЕ ТЕХНОЛОГИИ МАШИННОГО ЗРЕНИЯ ДЛЯ ПОВЫШЕНИЯ ТОЧНОСТИ СФОКУСИРОВАННОГО ЛАЗЕРНОГО ВОЗДЕЙСТВИЯ НА МИКРОЭЛЕКТРОННЫЕ СТРУКТУРЫ В ПРОЦЕССАХ ИССЛЕДОВАНИЙ И МИКРООБРАБОТКИ
(НИЯУ МИФИ, 2023) Можаев, Р. К.; Печенкин, А. А.; Цирков, А. А.; Белозеров, К. Г.; Лукашин, В. П.; Балуев, А, А.; Балуев, Арсений Андреевич; Лукашин, Владислав Павлович; Цирков, Артем Николаевич; Печенкин, Александр Александрович; Можаев, Роман Константинович
Машинное зрение – это область искусственного интеллекта, занимающаяся обработкой изображений и видеопотока при помощи специальных алгоритмов. Это позволяет устройствам анализировать визуальную информацию. Машинное зрение помогает в таких задачах, как распознавание образов, сегментация изображений, обнаружение объектов и слежение за ними. В микроскопии машинное зрение играет важную роль, в частности в лазерной сканирующей микроскопии (LSM). Лазерная сканирующая микроскопия, лазерное нанесение надрезов и лазерная коррекция топологии полупроводниковых кристаллов являются важными технологическими процессами в производстве, контроле и наладке полупроводниковых кристаллов, как на отладочных образцах, так и в серийных партиях пластин. Лазерное воздействие позволяет не только механически разделять кристаллы, но и осуществлять более деликатные и малоинвазивные воздействия, в частности подстройки сопротивления тонкопленочных резисторов или пережигание перемычек, необходимых для конфигурирования схемы и отключения неиспользуемых блоков кристалла. В работе проведен анализ основных параметров системы позиционирования в составе лазерной сканирующей установки, их влияние на точность сканирования и координат воздействия сфокусированным излучением в контрольных точках. Описаны принципы алгоритмов машинного зрения при работе с изображением сканируемого объекта и результаты апробации в задаче автоматизированного лазерного пережигания перемычек на полупроводниковой пластине. Поскольку число перемычек может достигать сотен тысяч, а системы позиционирования имеют значительные погрешности машинное зрение позволяет корректировать погрешности позиционирования и повысить точность лазерного воздействия на любом участке и этапе сканирования, что значительно повышает качество итогового результата лазерного воздействия.
Только метаданные
Comparative Assessment of Digital and UHF Optoelectronic Transceivers Radiation Hardness
(2019) Mozhaev, R. K.; Cherniak, M. E.; Pechenkin, A. A.; Ulanova, A. V.; Nikiforov, A. Y.; Можаев, Роман Константинович; Печенкин, Александр Александрович; Уланова, Анастасия Владиславовна; Никифоров, Александр Юрьевич
© 2019 IEEE.A method for radiation hardness evaluation of digital and microwave transmitting-receiving optoelectronic modules is presented. The technical aspects of parameters monitoring during exposure are described. The most vulnerable components of optoelectronic modules are identified.
Только метаданные
Evaluation of Organic Light-Emitting Diodes Total Ionizing Dose Sensitivity in Temperature Range
(2021) Mozhaev, R. K.; Pechenkin, A. A.; Ukolov, D. S.; Ulanova, A. V.; Nikiforov, A. Y.; Можаев, Роман Константинович; Печенкин, Александр Александрович; Уланова, Анастасия Владиславовна; Никифоров, Александр Юрьевич
© 2021 IEEE.The paper presents the comparative results of spectrum degradation organic light-emitting diode with different dominant wavelengths. The diodes were exposed with stationary gamma-irradiation at room and low temperatures. The research has shown moderate degradation of the light-emission spectrum when exposed at room temperature and significant degradation at low temperature. The greatest deterioration in the optical parameters was observed for organic light-emitting diodes with blue and white light emission color.
Только метаданные
Laser scanning confocal IR microscopy for non-destructive testing of semiconductors
(2022) Ukolov, D.; Baluev, A.; Gromova, P.; Pechenkin, A.; Mozhaev, R.; Балуев, Арсений Андреевич; Печенкин, Александр Александрович; Можаев, Роман Константинович
© 2022 IEEE.The article discusses characteristics of the laser scanning confocal IR microscope being developed for applications of non-destructive testing of semiconductor structures. The existing methods and analysis facilities of integrated circuits are described. In this review, the method of laser confocal IR-microscopy is considered. The laser scanning confocal IR-microscope will make it possible to reconstruct the internal structure of an integrated circuit and identify its materials without special environmental conditions during research, for example, such as vacuum chamber or x-ray facility.
Только метаданные
Near-Infrared Electroluminescence of Silicon Thyristor Structure and Its Possible Applications
(2022) Mozhaev, R.; Pechenkin, A.; Gorbunov, M.; Можаев, Роман Константинович; Печенкин, Александр Александрович
© 2022 IEEE.The paper presents a review of technological approaches of near-IR electroluminescence obtained in silicon. It was proven that the radiance was not of thermal type. The electroluminescence of a thyristor structure induced by the impact of focused laser pulse is demonstrated. Examples of light-emitting structures manufactured using commonly available technologies are shown.
Только метаданные
Optical Glasses Transmittance Reduction Under Gamma Radiation Exposure at Different Temperatures
(2023) Baluev, A. A.; Mozhaev, R. K.; Lukashin, V. P.; Pechenkin, A. A.; Балуев, Арсений Андреевич; Можаев, Роман Константинович; Лукашин, Владислав Павлович; Печенкин, Александр Александрович
Только метаданные
Application of Confocal Microscopy Methods for Research and Non-destructive Examination of Semiconductor Structures and Integrated Circuits
(2021) Baluev, A. A.; Ukolov, D. S.; Pechenkin, A. A.; Mozhaev, R. K.; Балуев, Арсений Андреевич; Печенкин, Александр Александрович; Можаев, Роман Константинович
© 2021 IEEE.The paper discusses the features and the possibilities of the under-development scanning confocal microscope in tasks of non-destructive examination of semiconductor electronics using the method of confocal microscopy with an emphasis on the possibility of studying the material and internal structure. The described technique allows studying integrated circuits from the substrate side of integrated circuits. This work is part of a global task and is devoted to mathematical modeling of the scanning process.