Персона:
Березкин, Евгений Феофанович

Profile Picture
Email Address
Birth Date
Научные группы
Организационные подразделения
OrgUnit Logo
Организационная единица
Институт интеллектуальных кибернетических систем
Цель ИИКС и стратегия развития - это подготовка кадров, способных противостоять современным угрозам и вызовам, обладающих знаниями и компетенциями в области кибернетики, информационной и финансовой безопасности для решения задач разработки базового программного обеспечения, повышения защищенности критически важных информационных систем и противодействия отмыванию денег, полученных преступным путем, и финансированию терроризма.
Статус
Фамилия
Березкин
Имя
Евгений Феофанович
Имя

Фильтры

2019 - 201912020 - 20211
11
2
Сброс фильтров

Настройки

Результаты поиска

Теперь показываю 1 - 2 из 2
  • Уменьшенное изображение
    Публикация
    Только метаданные
    One approach to compact testing of digital circuits
    (2019) Berezkin, E. F.; Березкин, Евгений Феофанович
    © 2019 Institut za Istrazivanja. All rights reserved. A problem of signature analyzer synthesis with required properties is solved for digital schemes compact testing. The main attention is devoted to the issues of eliminating losses of diagnostic information and to simplicity of structural organization. Solutions are based on detecting all error vectors or matrices resulting from failures of diagnostics objects related to the postulated class. Any other error vectors or matrices can be non-detectable and are excluded from consideration. For the compact testing of separate units of complex digital systems, the problem of synthesis of the generator structure that reproduces an assigned sequence of binary sets is being solved. Increased attention is given to issues of the non-excessive reproduction of sets sequence and structural organization simplicity. The solution is based on the application of a mathematical tool for linear sequence machines. A software implementation of the mathematical model is proposed. Error vectors or matrix detection process visualization aids are given. Additionally, means of the binary sets generation process visualization are presented.
  • Уменьшенное изображение
    Публикация
    Открытый доступ
    Optimization of testing for complex digital devices
    (2021) Berezkin, E. F.; Krasnikova, S. A.; Shuvalov, V. B.; Березкин, Евгений Феофанович; Красникова, Светлана Анатольевна; Шувалов, Виктор Борисович
    © 2020 Elsevier B.V.. All rights reserved.As the integration level increases, development of efficient test techniques becomes more challenging as well. The article describes basic principles of combining individual tests of the modules that make up the digital device into a single test program. Combination of tests is carried out with incomplete information regarding the reactions of a faulty digital device. Characteristic sets are introduced in order to evaluate individual test checks of modules. The properties of an optimally ordered sequence of tests in a test program are formulated. Heuristic algorithms for ordering tests are proposed.