Publication:
Optimization of testing for complex digital devices

Файлы
W3184297057.pdf(1.25 MB)
Дата
2021
Авторы
Berezkin, E. F.
Krasnikova, S. A.
Shuvalov, V. B.
Journal Title
Journal ISSN
Volume Title
Издатель
Научные группы
Организационные подразделения
OrgUnit Logo
Организационная единица
Институт интеллектуальных кибернетических систем
Цель ИИКС и стратегия развития - это подготовка кадров, способных противостоять современным угрозам и вызовам, обладающих знаниями и компетенциями в области кибернетики, информационной и финансовой безопасности для решения задач разработки базового программного обеспечения, повышения защищенности критически важных информационных систем и противодействия отмыванию денег, полученных преступным путем, и финансированию терроризма.
Выпуск журнала
Аннотация
© 2020 Elsevier B.V.. All rights reserved.As the integration level increases, development of efficient test techniques becomes more challenging as well. The article describes basic principles of combining individual tests of the modules that make up the digital device into a single test program. Combination of tests is carried out with incomplete information regarding the reactions of a faulty digital device. Characteristic sets are introduced in order to evaluate individual test checks of modules. The properties of an optimally ordered sequence of tests in a test program are formulated. Heuristic algorithms for ordering tests are proposed.
Описание
Ключевые слова
Цитирование
Berezkin, E. F. Optimization of testing for complex digital devices / Berezkin, E.F., Krasnikova, S.A., Shuvalov, V.B. // Procedia Computer Science. - 2021. - 190. - P. 82-89. - 10.1016/j.procs.2021.06.010
URI
https://www.doi.org/10.1016/j.procs.2021.06.010
 https://www.scopus.com/record/display.uri?eid=2-s2.0-85112650090&origin=resultslist
 https://openrepository.mephi.ru/handle/123456789/24598
Коллекции
Публикации