Journal Issue: Безопасности Информационных Технологий
Загружается...
Volume
2025-32
Number
3
Issue Date
Journal Title
Journal ISSN
2074-7128 (Print)
Том журнала
Том журнала
Безопасность Информационных Технологий
(2025-32)
Статьи
Публикация
Открытый доступ
РОССИЙСКИЕ МИКРОСХЕМЫ: РЕТРОСПЕКТИВА ПРОШЛОГО, НАСТОЯЩЕГО И БУДУЩЕГО
(НИЯУ МИФИ, 2025) Новоселов, А. Ю.
Как человек, посвятивший бо́льшую часть своей трудовой деятельности микроэлектронике, хочу поделиться своим видением ситуации в отрасли и обсудить вызовы, которые могут привести к катастрофическим последствиям – полному сворачиванию разработки и производства российской ЭКБ.
Все, кто сегодня работает в российской микроэлектронике, невольно задаются вопросом: в каком состоянии находится наша отрасль и что ждёт нас в будущем? Чтобы понять будущее, нужно обратиться к прошлому. На основе этого принципа предлагаю вспомнить историю становления нашей компании и провести аналогии, которые проявляются и сегодня. Считаю, что от того, как будут решаться выявленные проблемы, зависит будущее отрасли.
После распада СССР отрасль почти полностью развалилась. На этом фоне возникла наша компания, став дистрибьютором микросхем, производимых в бывших советских республиках. Начало деятельности было успешным: росли обороты, восстанавливались связи, производители микросхем через нас восстанавливали свои рынки сбыта и могли планировать объёмы производства, сохраняя коллективы.
Публикация
Открытый доступ
АНАЛИЗ РЫНКА ДОВЕРЕННОЙ ЭЛЕКТРОННОЙ КОМПОНЕНТНОЙ БАЗЫ ДЛЯ ОБЪЕКТОВ КРИТИЧЕСКОЙ ИНФОРМАЦИОННОЙ ИНФРАСТРУКТУРЫ
(НИЯУ МИФИ, 2025) Цветников, М. Ю.; Францышин, Д. В.
В статье дана оценка ёмкости российского рынка доверенных электронных компонентов в разрезе отраслей промышленности и объектов критической информационной инфраструктуры. Методика оценки включает в себя расчет количества компонентов в конечных устройствах и оценку потребности в таких устройствах в разных отраслях. По консервативной оценке, ёмкость рынка доверенных изделий электронной компонентной базы (ЭКБ) составляет 450 млн изделий в год, без учета военно-промышленного комплекса (ВПК), космической и атомной отраслей – анализ по указанным направлениям затруднен в силу закрытости данных. Выявлен существенный потенциал регулируемого рынка для российских разработчиков и производителей электронных компонентов.
Публикация
Открытый доступ
УЧАСТИЕ В 34-ОЙ КОНФЕРЕНЦИИ «МЕТОДЫ И ТЕХНИЧЕСКИЕ СРЕДСТВА ОБЕСПЕЧЕНИЯ БЕЗОПАСНОСТИ ИНФОРМАЦИИ 2025» (МИТСОБИ 2025)
(НИЯУ МИФИ, 2025) Кессаринский, Л. Н.; Кессаринский, Леонид Николаевич
с докладом
«Подход к формированию модели угроз доверенных интегральных микросхем
для доверенных ПАК» (Кессаринский Л.Н., Сидорин Ю.Ю., Никифоров А.Ю., Дураковский А.П.)
23–26 июня 2025 в Репино (Ленинградская обл.) автор принимал участие в работе одной из старейших конференций по вопросам информационной безопасности – «Методы и технические средства обеспечения безопасности информации» имени Петра Дмитриевича Зегжды «МиТСОБИ 2025».
Данная заметка частично использует материал с официального сайта конференции, с которым полностью можно ознакомиться https://mitsobi.ru/.
В этом году основными темами для обсуждения в рамках конференции стали вопросы цифровой криминалистики и эволюции методов защиты критической информационной инфраструктуры. Мероприятие собрало экспертов в сфере информационной безопасности со всей России.
Конференция «Методы и технические средства обеспечения безопасности информации» (МиТСОБИ) – одна из старейших и наиболее авторитетных экспертных площадок в сфере защиты информации, сохраняющая свою значимость как на Северо-Западе, так и в масштабах всей страны. Организуемая под эгидой Санкт-Петербургского политехнического университета Петра Великого, конференция традиционно объединяет фундаментальную науку и прикладные решения, предлагая профессиональному сообществу обсудить самые острые вопросы отрасли. Особенность конференции – диалог между учеными, разработчиками и отраслевыми экспертами, позволяющий находить решения для самых сложных вызовов современной кибербезопасности. Каждый год в работе конференции участвуют также регуляторы отрасли, обеспечивая площадку для прямой коммуникации.
Публикация
Открытый доступ
ВПЕЧАТЛЕНИЯ УЧАСТНИКА 28-й ВСЕРОССИЙСКОЙ НАУЧНОТЕХНИЧЕСКОЙ КОНФЕРЕНЦИИ «РАДИАЦИОННАЯ СТОЙКОСТЬ ЭЛЕКТРОННЫХ СИСТЕМ» («СТОЙКОСТЬ-2025»)
(НИЯУ МИФИ, 2025) Яненко, А. В.; Яненко, Андрей Викторович
В период с 3 по 4 июня 2025 г. в г. Москва прошла 28-я всероссийская научно-техническая конференция «Радиационная стойкость электронных систем», также известная под кратким названием «Стойкость». Эта ежегодная конференция является одним из наиболее значимых событий для специалистов в области обеспечения и контроля радиационной стойкости радиоэлектронной аппаратуры (РЭА) и электронной компонентной базы (ЭКБ). Радиационная стойкость (РС), как один из возможных элементов доверенности, является важной для ЭКБ и РЭА, применяемых в объектах критической информационной инфраструктуры, работающих в условиях воздействиях радиации, в первую очередь это космические системы, атомные станции, а также объекты вооружения, военной и специальной техники.
К началу конференции издается сборник тезисов, индексируемый в базах РИНЦ и Elibrary.ru. Наиболее значимые работы публикуются в реферируемом ВАК журнале «Вопросы атомной науки и техники. Серия: физика радиационного воздействия на радиоэлектронную аппаратуру», издаваемом АО «НИИП» (http://niipribor.ru/), которое является организатором конференции.
В работе конференции «Стойкость» ежегодно принимают участие более 150 руководителей и специалистов из более 40 организаций (разработчиков и производителей РЭА и ЭКБ военного и космического назначения, испытательных центров (ИЦ), образовательных учреждений и научных центров), которые представляют Госкорпорации «Росатом», «Роскосмос», Минобрнауки России, Минобороны России. Среди постоянных и активных участников следует отметить АО «НИИП», АО «ЭНПО СПЭЛС», НИЯУ МИФИ, АО «НИИ КП», ФГБУ «46 ЦНИИ» МО РФ, ФГУП «ВНИИА им. Н.Л. Духова», ФГУП «РФЯЦ-ВНИИЭФ», ФГУП «РФЯЦ-ВНИИТФ им. академика Е.И. Забабахина», АО «Российские космические системы», АО «НПО Лавочкина», АО «ЦНИИмаш», ИКИ РАН.
Публикация
Открытый доступ
КОЛОНКА ГЛАВНОГО РЕДАКТОРА
(НИЯУ МИФИ, 2025) Никифоров, А. Ю.; Никифоров, Александр Юрьевич
Здравствуйте, уважаемые читатели и авторы журнала
«Безопасность информационных технологий»!
«А все-таки жаль, что кончилось лето!...» – поет бард, и очень трудно с ним не согласиться! Зато уже совсем скоро начнется очередной Российский Форум «Микроэлектроника 2025» (далее – Форум») – наиболее масштабное информационное событие года в электронной отрасли.
К моменту публикации этого номера, надеюсь успешно завершится Предконференция №1 «Доверенная и экстремальная электроника» (с 8 по 11 сентября, Москва, пр-кт Андропова, 18, корп. 5). Ее организатором традиционно выступает консорциум НИЯУ МИФИ и АО «ЭНПО СПЭЛС» «Доверенные и экстремальные электронные системы». Для Предконференции №1 характерным является баланс научных и практических аспектов заявленной тематики, взаимодействия между регуляторами, исследователями, стандартизаторами, разработчиками, изготовителями и потребителями доверенной и экстремальной ЭКБ, а также интерес к материалам и оборудованию для их производства, тестирования и испытаний. В этом году впервые в рамках предконференции пройдут курсы повышения квалификации специалистов (дополнительное профессиональное образование) с выдачей удостоверений государственного образца. Хотя меня не удивит если «первый блин выйдет комом», так как эта инициатива родилась летом, когда основной состав участников находится в отпусках и традиционно игнорирует большую часть внешней информации.
Основные мероприятия Форума «Микроэлектроника 2025» состоятся с 21 по 27 сентября с.г. в Парке науки и искусств Федеральной территории «Сириус». Обращаю внимание что продолжительность конференции увеличена на один день.