Journal Issue: Безопасности Информационных Технологий
Загружается...
Volume
2026-33
Number
2
Issue Date
Journal Title
Безопасность информационных технологий
Journal ISSN
2074-7128 (Print)
Том журнала
Том журнала
Безопасности Информационных Технологий
Безопасность информационных технологий (2026-33)
Статьи
Публикация
Открытый доступ
КОЛОНКА ГЛАВНОГО РЕДАКТОРА/EDITOR-IN-CHIEF'S COLUMN
(НИЯУ МИФИ, 2026) Никифоров, А.Ю.; Никифоров, Александр Юрьевич
Здравствуйте, уважаемые читатели и авторы журнала
«Безопасность информационных технологий»!
Как вам понравился новый облик нашего журнала – выпуск № 1-2026? Мы обновили вид обложки и формат статей в соответствии с рекомендацией Научной электронной библиотеки (eLibrary.ru). Обратите внимание на изменение шаблона оформления при подготовке будущих публикаций. Также рады приветствовать новых членов нашей редколлегии – все очень уважаемые люди и хорошо известные специалисты.
Хотел бы в начале колонки поздравить с тридцатилетием редакционную коллегию и редакцию дружественного журнала – «Электроника – наука, технология, бизнес», его главного редактора – академика РАН, доктора технических наук, профессора Александра Сергеевича Сигова, генерального директора издательства «Техносфера» Ольгу Казанцеву, заместителя директора по развитию Галину Логинову, заместителя главного редактора Юрия Ковалевского, всех авторов и читателей журнала! Мы тесно взаимодействуем при подготовке и проведении Российских Форумов «Микроэлектроника» – «Техносфера» является бессменным информационным партнером Форума, публикует его сборники тезисов и трудов, наш журнал неоднократно перепечатывал (с разрешения редакции «Электроники-НТБ» и с нашей благодарностью!) очень точные и информативные отчеты-обзоры Юрия Ковалевского о мероприятиях прошедших Форумов. Прошлой осенью мы с соавторами опубликовали в «Электронике-НТБ» (2025, № 7) концептуальную статью по доверенной ЭКБ для регулируемых рынков КИИ – и наше взаимодействие с командой журнала оставило самые благоприятные впечатления! Желаем нашим коллегам крепкого здоровья, творческого долголетия и неизменной востребованности у читателей и авторов!
И еще один юбилей – исполнилось 60 лет Филиалу РФЯЦ ВНИИЭФ – «НИИИС им. Ю.Е. Седакова»! А 40 лет назад – в далеком 1986 г. – в НИИИС был образован отраслевой центр твердотельной микроэлектроники! Именно тогда я – недавний выпускник кафедры Электроники МИФИ в составе команды специалистов кафедры впервые посетил это уникальное предприятие. Потом были долгие годы тесного сотрудничества, бесчисленные радиационные испытания КНС и КНИ микросхем, совместные анализ отказов и поиск решений, разработка пионерских методик и испытательных установок. Запомнились жаркие споры и дискуссии до хрипоты с нашими традиционными друзьями-оппонентами из РФЯЦ «ВНИИЭФ» на ежегодных научных семинарах, которые НИИИС проводил в пионерском лагере «Сережа» – здесь собиралось и браталось в осознанном единстве все наше «радиационно-микроэлектронное» сообщество! Эх – сейчас есть что вспомнить! Дорогие друзья и коллеги! От души поздравляю с юбилеем родного предприятия всех сотрудников НИИИС и персонально – ныне генерального директора РФЯЦ ВНИИЭФ и многолетнего директора НИИИС Валентина Ефимовича Костюкова, заместителя директора НИИИС по микроэлектронике Александра Николаевича Бушуева, начальника производства Ивана Михайловича Агаркова, руководителя отделения разработки Павла Александровича Манина, а также дорогих учителей-соратников-друзей-ветеранов – Андрея Юлиевича Седакова, Льва Анатольевича Синегубко, Игоря Борисовича Яшанина, без которых в моей профессиональной судьбе «была бы совсем другая история». Здоровья Вам, друзья мои, добра, гармонии и долголетия – от всей души!
Публикация
Открытый доступ
ВЫЗОВЫ ПРИ ОРГАНИЗАЦИИ АСУ ТП НА ОТКРЫТЫХ АРХИТЕКТУРАХ В КОНТЕКСТЕ ИНФОРМАЦИОННОЙ БЕЗОПАСНОСТИ
(НИЯУ МИФИ, 2026) Бережанский, Н. В.; Аряшев, С. И.; Васильев, С. В.; Арнаутов, А. Г.; Хасанов, И, И.
В статье рассматриваются проблемы при внедрении автоматизированных систем управления технологическим процессом (АСУ ТП), организованных на открытых архитектурах, в т.ч. в рамках концепции O-PASTM («стандарт стандартов», разработанный форумом Open Process Automation – OPAF). Данный стандарт определяет открытую, совместимую и безопасную архитектуру для систем автоматизации промышленных процессов. В основе базовой архитектуры, предлагаемой стандартом, лежат технологии, получившие общемировое распространение и не имеющие проприетарных свойств и атрибутов, накладывающих ограничения на их реализацию. В данной статье рассмотрен частный пример реализации технологии для организации АСУ ТП по принципу «открытости». Рассмотрены основные преимущества данной архитектуры перед классической архитектурой АСУ ТП, при этом отмечены вопросы информационной безопасности, на данный момент накладывающие ограничения на её внедрение, в т.ч. на опасные производственные объекты. Рассмотрены основные подходы, предлагаемые для реализации функций информационной безопасности, и проведен анализ их влияния на основные технические характеристики, которые являются основополагающими при организации контуров АСУ ТП. Разработано предложение по экосистеме решений, удовлетворяющее требованиям по реализации демилитаризованной зоны в контурах АСУ ТП. Определены основные векторы развития предлагаемой экосистемы с учетом имеющего задела в российской федерации в области микроэлектроники и разработки программного обеспечения. Отдельно рассмотрен аспект признания АСУ ТП, разработанных на базе открытых архитектур доверенными.
Публикация
Открытый доступ
ТЕМПЕРАТУРНАЯ ЗАВИСИМОСТЬ ТУННЕЛЬНОГО ТОКА В ОКСИДЕ КРЕМНИЯ
(НИЯУ МИФИ, 2026) Сорокин, Д. В.; Шелепин, Н. А.
Исследована температурная зависимость туннельного тока МОП-конденсаторов от приложенного напряжения, описываемая формулой Фаулера-Нордгейма. Измерения проведены в диапазоне от –60°C до +130°C. Параметры A и B уравнения Фаулера–Нордгейма извлекались методом наименьших квадратов для каждой температурной точки. Установлено монотонное возрастание туннельного тока с увеличением температуры. Температурные зависимости параметров A(T) и B(T) аппроксимированы линейными функциями. Полученные аналитические выражения A(T) и B(T) могут быть интегрированы в SPICE-модель транзистора с плавающим затвором для моделирования операций программирования и стирания в расширенном температурном диапазоне.
Публикация
Открытый доступ
МЕТОД АНАЛИТИЧЕСКОЙ ОЦЕНКИ ЧАСТОТЫ ОДИНОЧНЫХ СБОЕВ ОТ ГАЛАКТИЧЕСКИХ КОСМИЧЕСКИХ ЛУЧЕЙ В ЦИФРОВОЙ ЭЛЕКТРОНИКЕ
(НИЯУ МИФИ, 2026) Зебрев, Г. И.; Родин, А. С.; Матейко, А. А.; Матейко, Александр Андреевич; Родин, Александр Сергеевич; Зебрев, Геннадий Иванович
Предложена физическая модель для аналитического расчёта частоты одиночных сбоев (Soft Error Rate, SER) в цифровых запоминающих устройствах под воздействием тяжёлых ионов на космических орбитах. Данный метод основан на параметрах, которые однозначно определяются по результатам наземных испытаний при нормальном падении ионов. Показано, что предварительное усреднение по полному телесному углу в рамках стандартной модели обратного косинуса позволяет учесть влияние изотропного потока, которое увеличивает эффективную частоту SER. Модель включает возможность оценки вклада в SER области спектра с низким значением линейной передачи энергии, что очень важно для современных интегральных схем с низкой устойчивостью к сбоям.
Публикация
Открытый доступ
ПРИМЕНЕНИЕ МАШИННОГО ОБУЧЕНИЯ В ЗАДАЧЕ ОБНАРУЖЕНИЯ ПРОГРАММНЫХ КЛОНОВ
(НИЯУ МИФИ, 2026) Грибков, Н. А. ; Иванов, Д. В.
Статья посвящена анализу методов определения схожести фрагментов программного кода, в частности, на уровне бинарных представлений прошивок программно-аппаратных комплексов. Наибольшей эффективности позволяют достичь гибридные методы, сочетающие анализ на нескольких уровнях абстракции. Все подходы классифицируются на основе используемых признаков: синтаксических и семантических. К синтаксическим признакам относятся низкоуровневые элементы, такие как последовательности байт, ассемблерные инструкции, статистические величины и графы потока управления (CFG). Их анализ близок к уровню байт и эффективен для поиска синтаксических клонов. Семантические же признаки, напротив, описывают взаимосвязи в коде и часто представляют собой векторные или графовые модели, построенные с применением алгоритмов машинного обучения, включая NLP-методы. Ключевая проблема – выбор и комбинирование оптимальных источников признаков. Использование только низкоуровневых данных ведет к «недостатку семантики», а опора исключительно на высокоуровневые представления увеличивает число ложных срабатываний. Комбинирование же подходов часто снижает общую эффективность, повышая частоту ошибок обоих типов. В качестве решения предлагается последовательное извлечение и совместное использование низкоуровневых признаков бинарного кода и высокоуровневых семантических признаков, извлекаемых на основе абстрактных синтаксических деревьев (AAST), для оптимизации поиска семантических клонов.