2024_НОВЫЕ МАТЕРИАЛЫ: Перспективные технологии и методы исследования материалов
Постоянный URI для этой коллекции
Обзор
Последние материалы
- ПубликацияОткрытый доступИЗМЕНЕНИЕ ТЕКСТУРЫ, СТРУКТУРЫ И СВОЙСТВ РАЗЛИЧНЫХ УЧАСТКОВ ЯЧЕЕК ДИСТАНЦИОНИРУЮЩИХ РЕШЕТОК ПРИ ШТАМПОВКЕ(НИЯУ МИФИ, 2024) Михальчик, В. В.; Петров, М. И.; Исаенкова, М. Г.; Крымская, О. А.; Фесенко, В. А.; Козлов, И. В.; Козлов, Илья Владимирович; Фесенко, Владимир Александрович; Крымская, Ольга Александровна; Исаенкова, Маргарита Геннадьевна; Михальчик, Владимир Валерьевич; Петров, Марк ИгоревичДистанционирующая решетка (ДР) является ответственным конструктивным элементом тепловыделяющей сборки (ТВС) и используется для повышения надежности дистанционирования тепловыделяющих элементов (твэлов) и обеспечения ламинарности потока теплоносителя в активной зоне ядерного реактора. Для обеспечения работоспособности тепловыделяющей сборки ДР должны отвечать сразу ряду требований: 1) совместимость с твэлами по коррозионной стойкости, фрикционным и механическим свойствам; 2) низкое сечение захвата тепловых нейтронов; 3) достаточно упругими и в то же время жесткими, чтобы твэлы не изменяли с течением времени своего первоначального положения под воздействием транспортно-технологических и эксплуатационных нагрузок. Установление пределов варьирования структуры и кристаллографической текстуры в различных участках ячейки ДР, определяющих поведение ДР в процессе их эксплуатации является актуальной задачей.
- ПубликацияОткрытый доступИССЛЕДОВАНИЕ СТРУКТУРЫ И КРИСТАЛЛОГРАФИЧЕСКОЙ ТЕКСТУРЫ КРИСТАЛЛИЧЕСКИХ МАТЕРИАЛОВ С ПОМОЩЬЮ СИНХРОТРОННОГО ИЗЛУЧЕНИЯ(НИЯУ МИФИ, 2024) Исаенкова, М. Г.; Крымская, О. А.; Фесенко, В. А.; Петров, М. И.; Козлов, И. В.; Фесенко, Владимир Александрович; Козлов, Илья Владимирович; Исаенкова, Маргарита Геннадьевна; Петров, Марк Игоревич; Крымская, Ольга АлександровнаКристаллографическая текстура является чувствительным индикатором всех процессов, протекающих в материалах при пластической деформации, термообработке и эксплуатации, а также определяет анизотропию их свойств. В настоящее время развитие методов растровой электронной микроскопии (РЭМ) и дифракции синхротронного излучения (СИ) позволяют существенно упростить трудоемкую процедуру текстурного анализа с использованием традиционного рентгеновского метода (РМ), основанного на результатах съемки образца «на отражение». Перечисленные методы характеризуют разные объемы материала, находящиеся либо в поверхностном слое толщиной менее 0,1 мкм (РЭМ) или 10-20 мкм (РМ). Синхротронные методы позволяют исследовать фольги толщиной 120-150 мкм (СИ). Сопоставление разных данных [1, 2] позволяет не только обнаружить различия, но и установить закономерности развития текстуры в результате различных процессов, протекающих в разных объемах деформированного материала при повышении температуры отжига.