Publication: ИССЛЕДОВАНИЕ СТРУКТУРЫ И КРИСТАЛЛОГРАФИЧЕСКОЙ ТЕКСТУРЫ КРИСТАЛЛИЧЕСКИХ МАТЕРИАЛОВ С ПОМОЩЬЮ СИНХРОТРОННОГО ИЗЛУЧЕНИЯ
Дата
2024
Авторы
Исаенкова, М. Г.
Крымская, О. А.
Фесенко, В. А.
Петров, М. И.
Козлов, И. В.
Journal Title
Journal ISSN
Volume Title
Издатель
НИЯУ МИФИ
Аннотация
Кристаллографическая текстура является чувствительным индикатором всех процессов, протекающих в материалах при пластической деформации, термообработке и эксплуатации, а также определяет анизотропию их свойств. В настоящее время развитие методов растровой электронной микроскопии (РЭМ) и дифракции синхротронного излучения (СИ) позволяют существенно упростить трудоемкую процедуру текстурного анализа с использованием традиционного рентгеновского метода (РМ), основанного на результатах съемки образца «на отражение». Перечисленные методы характеризуют разные объемы материала, находящиеся либо в поверхностном слое толщиной менее 0,1 мкм (РЭМ) или 10-20 мкм (РМ). Синхротронные методы позволяют исследовать фольги толщиной 120-150 мкм (СИ). Сопоставление разных данных [1, 2] позволяет не только обнаружить различия, но и установить закономерности развития текстуры в результате различных процессов, протекающих в разных объемах деформированного материала при повышении температуры отжига.
Описание
Ключевые слова
Цитирование
ИССЛЕДОВАНИЕ СТРУКТУРЫ И КРИСТАЛЛОГРАФИЧЕСКОЙ ТЕКСТУРЫ КРИСТАЛЛИЧЕСКИХ МАТЕРИАЛОВ С ПОМОЩЬЮ СИНХРОТРОННОГО ИЗЛУЧЕНИЯ [Text]. / ИСАЕНКОВА М.Г. [и др.] // Сборник тезисов докладов 22-й Международной школы-конференции имени Б.А. Калина для молодых ученых и специалистов. Новые материалы, 2024. - 2024. - С. 29-30