Publication:
Verification the Reliability of Using (Non-Nuclear Grade) Electronic Devices in Nuclear Installations

Файлы
W3016394393.pdf(384.23 KB)
Дата
2020
Авторы
Samokhin, D.
Alslman, M.
Vostrilova, A.
Journal Title
Journal ISSN
Volume Title
Издатель
Научные группы
Организационные подразделения
OrgUnit Logo
Организационная единица
Институт ядерной физики и технологий
Цель ИЯФиТ и стратегия развития - создание и развитие научно-образовательного центра мирового уровня в области ядерной физики и технологий, радиационного материаловедения, физики элементарных частиц, астрофизики и космофизики.
Выпуск журнала
Аннотация
© 2020 The Authors. Published by Elsevier B.V.This paper describes the experimental approach to be performed to examine the reliability indicator of certain electrical devices manufactured by companies in the Russian Federation. The tests will be conducted according to technical specifications and test procedures which were prepared for these devices. In addition, a comparison referring to the reliability parameters between results and manufactured specifications will be provided or conducted.
Описание
Ключевые слова
Цитирование
Samokhin, D. Verification the Reliability of Using (Non-Nuclear Grade) Electronic Devices in Nuclear Installations / Samokhin, D., Alslman, M., Vostrilova, A. // Procedia Computer Science. - 2020. - 169. - P. 835-839. - 10.1016/j.procs.2020.02.155
URI
https://www.doi.org/10.1016/j.procs.2020.02.155
 https://www.scopus.com/record/display.uri?eid=2-s2.0-85084441497&origin=resultslist
 https://openrepository.mephi.ru/handle/123456789/21784
Коллекции
Публикации