Publication:
Advanced Measurement Systems for ADC/DAC Characterization: Methodology, Hardware and Local Dose-Enhancement Effects

Дата
2025
Авторы
Torshin, R.
Journal Title
Journal ISSN
Volume Title
Издатель
Научные группы
Организационные подразделения
OrgUnit Logo
Организационная единица
Другие подразделения НИЯУ МИФИ
Структурные подразделения НИЯУ МИФИ, не включенные в состав институтов и факультетов.
Выпуск журнала
Аннотация
Описание
Ключевые слова
Цитирование
Torshin, R. Advanced Measurement Systems for ADC/DAC Characterization: Methodology, Hardware and Local Dose-Enhancement Effects / Torshin, R. // Proceedings of the 17th International Scientific and Technical Conference Actual Problems of Electronic Instrument Engineering, APEIE 2025. - 2025. - 10.1109/APEIE66761.2025.11289416
URI
https://www.doi.org/10.1109/APEIE66761.2025.11289416
 https://www.scopus.com/record/display.uri?eid=2-s2.0-105031765804&origin=resultslist
 https://openrepository.mephi.ru/handle/123456789/42682
Коллекции
Публикации