Publication:
Расчет кривой качания двухкристального нейтронного спектрометра на сильнопоглощающих кристаллах InSb в геометрии ЛАУЭ–ЛАУЭ

Файлы
elibrary_67867683_96356332.pdf(450.51 KB)
Дата
2024
Авторы
Шмайснер, Й.
Тюлюсов, А. Н.
Journal Title
Journal ISSN
Volume Title
Издатель
Научные группы
Организационные подразделения
OrgUnit Logo
Организационная единица
Институт общей профессиональной подготовки (ИОПП)
Миссией Института является: фундаментальная базовая подготовка студентов, необходимая для получения качественного образования на уровне требований международных стандартов; удовлетворение потребностей обучающихся в интеллектуальном, культурном, нравственном развитии и приобретении ими профессиональных знаний; формирование у студентов мотивации и умения учиться; профессиональная ориентация школьников и студентов в избранной области знаний, формирование способностей и навыков профессионального самоопределения и профессионального саморазвития. Основными целями и задачами Института являются: обеспечение высококачественной (фундаментальной) базовой подготовки студентов бакалавриата и специалитета; поддержка и развитие у студентов стремления к осознанному продолжению обучения в институтах (САЕ и др.) и на факультетах Университета; обеспечение преемственности образовательных программ общего среднего и высшего образования; обеспечение высокого качества довузовской подготовки учащихся Предуниверситария и школ-партнеров НИЯУ МИФИ за счет интеграции основного и дополнительного образования; учебно-методическое руководство общеобразовательными кафедрами Института, осуществляющими подготовку бакалавров и специалистов по социо-гуманитарным, общепрофессиональным и естественнонаучным дисциплинам, обеспечение единства требований к базовой подготовке студентов в рамках крупных научно-образовательных направлений (областей знаний).
Выпуск журнала
Уменьшенное изображение
Выпуск журнала
Ядерная физика и инжиниринг
15 - 3
Аннотация
Представлены расчетные кривые качания для спектрометрической схемы двухкристального дифрактометра из кристаллов InSb в геометрии Лауэ–Лауэ для диапазонов длин волн нейтронов, соответствующих слабому потенциальному и сильному резонансному поглощению. Приведено сравнение вида и формы кривых, рассчитанных по расширенному выражению с учетом сечения поглощения и рассчитанных по выражению Комптона–Алиссона.
Описание
Ключевые слова
геометрия Лауэ-Лауэ , кристалл InSb , двухкристаллический нейтронный спектрометр
Цитирование
Шмайснер Й. Расчет кривой качания двухкристального нейтронного спектрометра на сильнопоглощающих кристаллах InSb в геометрии ЛАУЭ-ЛАУЭ [Text]. / Шмайснер Й., Тюлюсов А. Н. // Ядерная физика и инжиниринг. - 2024. - 15, 3. - С. 240-244
URI
https://elibrary.ru/item.asp?id=67867683
 https://openrepository.mephi.ru/handle/123456789/15781
Коллекции