Publication: ВЛИЯНИЕ ИОННОЙ БОМБАРДИРОВКИ НА ЭЛЕКТРОННУЮ СТРУКТУРУ И ВАЛЕНТНЫЕ СОСТОЯНИЯ УРАНА В КИСЛОРОДОСОДЕРЖАЩИХ СОЕДИНЕНИЯХ
Дата
2015
Авторы
Ионов, А. М.
Можчиль, Р. Н.
Редькин, А. Ф.
Протасова, С. Г.
Воробьёва, Н. С.
Journal Title
Journal ISSN
Volume Title
Издатель
НИЯУ МИФИ
Аннотация
The valence states and electronic structure of uranium compounds UO2 U3O8 UO3 and Upyrochlore as grown and ion-sputtered surfaces were characterized by X-ray Photoelectron Spectroscopy (XPS). It was observed that the ion beam used in XPS analysis have caused partial reduction of U6+ and U5+ to U4+ at the surfaces. For tetravalent compounds of U 4f XPS spectra did not show any observable changes. The results of electron structure evolution under ion beam and annealing are presented and discussed.
Описание
Ключевые слова
Конференции НИЯУ МИФИ
Цитирование
ВЛИЯНИЕ ИОННОЙ БОМБАРДИРОВКИ НА ЭЛЕКТРОННУЮ СТРУКТУРУ И ВАЛЕНТНЫЕ СОСТОЯНИЯ УРАНА В КИСЛОРОДОСОДЕРЖАЩИХ СОЕДИНЕНИЯХ [Text.] / Ионов А. М. [и др.] // Взаимодействие ионов с поверхностью «ВИП – 2015»: труды XXII Международной конференции Том 1. - 2015. - С. 189-192