Publication:
Fine structure of angular distribution of x-ray transition radiation from multilayered radiator in Geant4

Файлы
Savchenko_2020_J._Inst._15_C06024.pdf(796.64 KB)
Дата
2020
Авторы
Cherry, M.
Dachs, F.
Fusco, P.
Gargano, F.
Savchenko, A. A.
Tishchenko, A. A.
Sergeeva, D. Y.
Belyaev, N.
Doronin, S.
Filippov, K.
Показать ещё 10
Journal Title
Journal ISSN
Volume Title
Издатель
Научные группы
Организационные подразделения
OrgUnit Logo
Организационная единица
Институт нанотехнологий в электронике, спинтронике и фотонике
Институт ИНТЭЛ занимается научной деятельностью и подготовкой специалистов в области исследования физических принципов, проектирования и разработки технологий создания компонентной базы электроники гражданского и специального назначения, а также построения современных приборов на её основе. ​Наша основная цель – это создание и развитие научно-образовательного центра мирового уровня в области наноструктурных материалов и устройств электроники, спинтроники, фотоники, а также создание эффективной инновационной среды в области СВЧ-электронной и радиационно-стойкой компонентной базы, источников ТГц излучения, ионно-кластерных технологий материалов.​
OrgUnit Logo
Организационная единица
Институт ядерной физики и технологий
Цель ИЯФиТ и стратегия развития - создание и развитие научно-образовательного центра мирового уровня в области ядерной физики и технологий, радиационного материаловедения, физики элементарных частиц, астрофизики и космофизики.
OrgUnit Logo
Организационная единица
Другие подразделения НИЯУ МИФИ
Структурные подразделения НИЯУ МИФИ, не включенные в состав институтов и факультетов.
Выпуск журнала
Аннотация
© 2020 IOP Publishing Ltd and Sissa Medialab.The present version of the Transition Radiation (TR) simulation module implemented in the Geant4 toolkit describes very well experimental data for the TR energy distribution; however, it does not allow reproducing the details of angular distribution at small angles. In order to solve this problem, corrections to the existing x-ray TR module in Geant4 are proposed. With these corrections, the results of the simulations are in a good agreement with the angular TR distributions predicted by theory and obtained in the test beam measurements using a 480 um Si pixel detector and Mylar radiator.
Описание
Ключевые слова
Цитирование
Fine structure of angular distribution of x-ray transition radiation from multilayered radiator in Geant4 / Cherry, M. [et al.] // Journal of Instrumentation. - 2020. - 15. - № 6. - 10.1088/1748-0221/15/06/C06024
URI
https://www.doi.org/10.1088/1748-0221/15/06/C06024
 https://www.scopus.com/record/display.uri?eid=2-s2.0-85087981239&origin=resultslist
 http://gateway.webofknowledge.com/gateway/Gateway.cgi?GWVersion=2&SrcAuth=Alerting&SrcApp=Alerting&DestApp=WOS_CPL&DestLinkType=FullRecord&UT=WOS:000545350600024
 https://openrepository.mephi.ru/handle/123456789/22044
Коллекции
Публикации