Publication: ОПРЕДЕЛЕНИЕ СОДЕРЖАНИЯ ГЕЛИЯ В ВОЛЬФРАМОВОМ «ПУХЕ» МЕТОДОМ ТЕРМОДЕСОРБЦИОННОЙ СПЕКТРОСКОПИИ
Дата
2016
Авторы
ЕФИМОВ, В. С.
ПОСКАКАЛОВ, А. Г.
ГАСПАРЯН, Ю. М.
БЫСТРОВ, К.
Journal Title
Journal ISSN
Volume Title
Издатель
НИЯУ МИФИ
Аннотация
В ряде экспериментов на линейных плазменных симуляторах [1,2] бы-ло показано, что при облучении большими потоками гелиевой плазмы поверхности вольфрама при температуре 1000–2000 K, наблюдается рост специфического наноструктурированного слоя, состоящего из тонких вольфрамовых нитей толщиной несколько десятков нанометров и длиной до нескольких микрометров. Внутри отдельных нитей наблюдаются ге-лиевые пузыри. В литературе эта структура называется вольфрамовым «пухом» (fuzz). Аналогичные структуры были получены и на других ма-териалах. Образования подобной структуры может явиться источником повышенной эрозии в термоядерных установках.
Описание
Ключевые слова
Конференции НИЯУ МИФИ
Цитирование
ОПРЕДЕЛЕНИЕ СОДЕРЖАНИЯ ГЕЛИЯ В ВОЛЬФРАМОВОМ «ПУХЕ» МЕТОДОМ ТЕРМОДЕСОРБЦИОННОЙ СПЕКТРОСКОПИИ [Текст.] / ЕФИМОВ В.С. [и др.] // Взаимодействие плазмы с поверхностью: сборник научных трудов XIX конференции. - 2016. - С. 50-53