Publication: Спектроскопическая диагностика высокотемпературной лазерной плазмы вольфрама с помощью метода сравнения
| creativeworkseries.issn | 0368-7147 | |
| dc.contributor.author | Шевелько, А. П. | |
| dc.date.accessioned | 2024-06-25T11:58:22Z | |
| dc.date.available | 2024-06-25T11:58:22Z | |
| dc.date.issued | 2024 | |
| dc.description.abstract | Проведено детальное исследование структуры и абсолютных интенсивностей линий в рентгеновских спектрах лазерной плазмы вольфрама. Плазма создавалась фокусировкой лазерного импульса (0.53 мкм, 5 Дж, 2 нс) на массивные твердотельные мишени. Спектры регистрировались двумя фокусирующими кристаллическими спектрометрами в диапазоне длин волн l = 4 – 8 Å со спектральным разрешением l/dl = 600 – 1500. Диагностика плазмы проводилась по спектрам [He]-подобных ионов легких элементов. Измерена абсолютная спектральная яркость источника, а с помощью метода сравнения проведена оценка температуры электронов плазмы вольфрама в диапазоне Те = 500 – 750 эВ. | |
| dc.identifier.uri | https://openrepository.mephi.ru/handle/123456789/10543 | |
| dc.subject | рентгеновские спектрометры | |
| dc.subject | многозарядные ионы | |
| dc.subject | рентгеновская спектроскопия и метрология | |
| dc.subject | диагностика высокотемпературной плазмы | |
| dc.subject | лазерная плазма | |
| dc.title | Спектроскопическая диагностика высокотемпературной лазерной плазмы вольфрама с помощью метода сравнения | |
| dc.title.alternative | Письма | |
| dc.type | Article | |
| dspace.entity.type | Publication | |
| journal.title | Квантовая электроника | |
| journalvolume.identifier.name | Квантовая электроника | |
| relation.isJournalIssueOfPublication | b788f505-eaf3-4e0c-b09d-0ae268fb28a8 | |
| relation.isJournalIssueOfPublication.latestForDiscovery | b788f505-eaf3-4e0c-b09d-0ae268fb28a8 | |
| relation.isJournalOfPublication | 912baea6-a69f-48e5-a2df-af616dd3d576 |