Publication: Спектроскопическая диагностика высокотемпературной лазерной плазмы вольфрама с помощью метода сравнения
Дата
2024
Авторы
Шевелько, А. П.
Journal Title
Квантовая электроника
Journal ISSN
Volume Title
Квантовая электроника
Издатель
Аннотация
Проведено детальное исследование структуры и абсолютных интенсивностей линий в рентгеновских спектрах лазерной плазмы вольфрама. Плазма создавалась фокусировкой лазерного импульса (0.53 мкм, 5 Дж, 2 нс) на массивные твердотельные мишени. Спектры регистрировались двумя фокусирующими кристаллическими спектрометрами в
диапазоне длин волн l = 4 – 8 Å со спектральным разрешением l/dl = 600 – 1500. Диагностика плазмы проводилась по спектрам [He]-подобных ионов легких элементов. Измерена абсолютная спектральная яркость источника, а с помощью метода сравнения проведена оценка температуры электронов плазмы вольфрама в диапазоне Те = 500 – 750 эВ.
Описание
Ключевые слова
рентгеновские спектрометры , многозарядные ионы , рентгеновская спектроскопия и метрология , диагностика высокотемпературной плазмы , лазерная плазма