Publication:
СПОСОБ ОЦЕНКИ ГЕНЕТИЧЕСКИХ НАРУШЕНИЙ В КЛЕТКАХ, РАСПОЛОЖЕННЫХ ДО ОБЛУЧАЕМОГО ОБЪЕМА ПРИ СОЧЕТАННОЙ ИОН-ПРОТОННОЙ ЛУЧЕВОЙ ТЕРАПИИ

Файлы
СПОСОБ ОЦЕНКИ ГЕНЕТИЧЕСКИХ НАРУШЕНИЙ В КЛЕТКАХ.pdf(915.59 KB)
Дата
2024
Авторы
Трошина, М. В.
Корякина, Е. В.
Потетня, В. И.
Сабуров, В. О.
Колобов, А. В.
Завестовская, И. Н.
Корякин, С. Н.
Соловьев, А. Н.
Journal Title
Journal ISSN
Volume Title
Издатель
Научные группы
Организационные подразделения
OrgUnit Logo
Организационная единица
Инженерно-физический институт биомедицины
Цель ИФИБ и стратегия развития – это подготовка высококвалифицированных кадров на базе передовых исследований и разработок новых перспективных методов и материалов в области инженерно-физической биомедицины. Занятие лидерских позиций в биомедицинских технологиях XXI века и внедрение их в образовательный процесс, что отвечает решению практикоориентированной задачи мирового уровня – диагностике и терапии на клеточном уровне социально-значимых заболеваний человека.
Выпуск журнала
Аннотация
Изобретение относится к экспериментальной медицине, а именно к лучевой терапии, и направлено на определение уровня генетических повреждений в клетках, находящихся вне мишени облучения (опухоли) на пути прохождения пучков заряженных частиц при сочетанном облучении ионами углерода и протонами. Способ позволяет определить уровень генетических повреждений в клетках, подвергающихся облучению в области, в которой при проведении сочетанной лучевой терапии находятся здоровые ткани. Способ может быть использован для предварительной оценки лучевых осложнений, а также рисков/отдаленных последствий при разработке схем ион-протонной лучевой терапии для целей лечения пациентов со злокачественными новообразованиями. 2 ил., 1 пр.
Описание
Патент на полезную модель
Ключевые слова
Патент
Цитирование
СПОСОБ ОЦЕНКИ ГЕНЕТИЧЕСКИХ НАРУШЕНИЙ В КЛЕТКАХ, РАСПОЛОЖЕННЫХ ДО ОБЛУЧАЕМОГО ОБЪЕМА ПРИ СОЧЕТАННОЙ ИОН-ПРОТОННОЙ ЛУЧЕВОЙ ТЕРАПИИ / Трошина М.В. [и др.].- Заявка № 2024114227 от 24.05.2024.- 2024
URI
https://openrepository.mephi.ru/handle/123456789/39855
Коллекции
Патенты