Publication:
ПРИМЕНЕНИЕ СПЕКТРОСКОПИИ ИОННОГО РАССЕЯНИЯ ДЛЯ АНАЛИЗА ОСАЖДЕНИЯ ТОНКИХ СЛОЕВ ЛИТИЯ НА ВОЛЬФРАМ

Простая страница элемента
dc.contributor.authorЕФИМОВ, Н. Е.
dc.contributor.authorБУЛГАДАРЯН, Д. Г.
dc.contributor.authorСИНЕЛЬНИКОВ, Д. Н.
dc.contributor.authorКУРНАЕВ, В. А.
dc.contributor.authorСинельников, Дмитрий Николаевич
dc.contributor.authorЕфимов, Никита Евгеньевич
dc.date.accessioned2024-12-23T11:53:03Z
dc.date.available2024-12-23T11:53:03Z
dc.date.issued2020
dc.description.abstractВ НИЯУ МИФИ проводятся исследования применения спектроскопии рассеяния протонов кэвных энергий для анализа тонких слоев кандидатных материалов ОПЭ [1–3]. Особенностью материалов, используемых в настоящее время в термоядерных установках, является большая разница в атомном номере материала, используемого для дивертора (вольфрам), и материалов с малым атомным номером, применяемым для кондиционирования первой стенки. Большая разница атомных номеров осаждаемых на подложку слоев прекрасно соответствует аналитическим возможностям применения протонов кэвных энергий, так как в этом случае толщину напыленных слоев можно определять с высокой точностью по энергетическим спектрам отраженных ионов [3].
dc.identifier.citationПрименение спектроскопии ионного рассеяния для анализа осаждения тонких слоев лития на вольфрам [Text]. / Ефимов Н.Е. [et al.] // Взаимодействие плазмы с поверхностью: сборник научных трудов XXIII конференции. - 2020. - С. 111-113
dc.identifier.urihttps://openrepository.mephi.ru/handle/123456789/26688
dc.publisherНИЯУ МИФИ
dc.subjectКонференции НИЯУ МИФИ
dc.titleПРИМЕНЕНИЕ СПЕКТРОСКОПИИ ИОННОГО РАССЕЯНИЯ ДЛЯ АНАЛИЗА ОСАЖДЕНИЯ ТОНКИХ СЛОЕВ ЛИТИЯ НА ВОЛЬФРАМ
dc.typeArticle
dspace.entity.typePublication
relation.isAuthorOfPublication4f6f2fcb-29aa-4f64-a710-49ec3d0da924
relation.isAuthorOfPublication80fa45c4-6d72-4001-98eb-50dcc5ab3a07
relation.isAuthorOfPublication.latestForDiscovery4f6f2fcb-29aa-4f64-a710-49ec3d0da924
relation.isOrgUnitOfPublicationdcdb137c-0528-46a5-841b-780227a67cce
relation.isOrgUnitOfPublication.latestForDiscoverydcdb137c-0528-46a5-841b-780227a67cce
Файлы
Original bundle
Теперь показываю 1 - 1 из 1
Уменьшенное изображение
Name:
стр. 111-113.pdf
Size:
610.24 KB
Format:
Adobe Portable Document Format
Description:
Download
License bundle
Теперь показываю 1 - 1 из 1
Уменьшенное изображение
Name:
license.txt
Size:
3.45 KB
Format:
Item-specific license agreed to upon submission
Description:
Download
Коллекции
2020_ Конференция " Взаимодействие плазмы с поверхностью (ХХIII ; 23-24 января 2020 г. ; Москва).