Publication:
The SEE Test Results of the different analog devices

Дата
2021
Авторы
Kalashnikova, A. A.
Maksimenko, T. A.
Koziukov, A. E.
Chubunov, P. A.
Journal Title
Journal ISSN
Volume Title
Издатель
Научные группы
Организационные подразделения
OrgUnit Logo
Организационная единица
Институт нанотехнологий в электронике, спинтронике и фотонике
Институт ИНТЭЛ занимается научной деятельностью и подготовкой специалистов в области исследования физических принципов, проектирования и разработки технологий создания компонентной базы электроники гражданского и специального назначения, а также построения современных приборов на её основе. ​Наша основная цель – это создание и развитие научно-образовательного центра мирового уровня в области наноструктурных материалов и устройств электроники, спинтроники, фотоники, а также создание эффективной инновационной среды в области СВЧ-электронной и радиационно-стойкой компонентной базы, источников ТГц излучения, ионно-кластерных технологий материалов.​
Выпуск журнала
Аннотация
The article presents the results of singlt event effect (SEE) testing samples of various representatives of analog microcircuits: operational amplifiers (OpAmp), relays, voltage regulators and transistor. © 2021 IEEE.
Описание
Ключевые слова
Цитирование
The SEE Test Results of the different analog devices / Kalashnikova, A.A. [et al.] // RADECS 2021 - European Conference on Radiation and its Effects on Components and Systems. - 2021. - 10.1109/RADECS53308.2021.9954521
URI
https://www.doi.org/10.1109/RADECS53308.2021.9954521
 https://www.scopus.com/record/display.uri?eid=2-s2.0-85143895428&origin=resultslist
 https://openrepository.mephi.ru/handle/123456789/25429
Коллекции
Публикации