Publication:
Сравнение пассивных и активных методов элементного анализа на примере определения содержания лантана

Файлы
tezisy_2026_final С. 100.pdf(155.68 KB)
Дата
2026
Авторы
Чакилев, О. В.
Колесников, С. В.
Колесников, А. С.
Journal Title
Journal ISSN
Volume Title
Издатель
НИЯУ МИФИ
Научные группы
Организационные подразделения
OrgUnit Logo
Организационная единица
Институт физико-техничеcких интеллектуальных систем
Институт физико-технических интеллектуальных систем впервые в стране обеспечивает комплексную подготовку специалистов по созданию киберфизических устройств и систем самого различного назначения – основного вида технических устройств середины 21 века. ИФТИС реализует «дуальную» модель образования, в рамках которой направляет студентов на стажировку и выпускников для трудоустройства на передовые предприятия, занятые созданием инновационных киберфизических продуктов, в первую очередь, на предприятия ГК «Росатом». Основным индустриальным партнером ИФТИС является ведущее предприятие ГК «Росатом» — ФГУП «ВНИИА им. Н.Л. Духова».
Выпуск журнала
Аннотация
В докладе представлены результаты сравнения пассивных и активных методов элементного анализа. Пассивный метод представляет собой измерение естественной радиоактивности лантана, в качестве активных сравнивается классический нейтронно-активационный анализ и мгновенный нейтронно-радиационный.
Описание
Ключевые слова
Цитирование
Чакилев О.В. Сравнение пассивных и активных методов элементного анализа на примере определения содержания лантана / Чакилев О.В., Колесников С.В., Колесников А.С. // Физико-технические интеллектуальные системы (ФТИС-2026): Сборник тезисов. V Научно-практическая конференция. - 2026. - С. 100
URI
https://openrepository.mephi.ru/handle/123456789/43667
Коллекции
2026_Научно-практическая конференция "Физико-технические интеллектуальные системы" (ФТИС-2026) (V; 10–12 февраля 2026 г.)