Publication:
Qualitative Risk Assessment in the Application of Circuit-based Protection Against SEL in Space Electronics

Дата
2022
Journal Title
Journal ISSN
Volume Title
Издатель
Научные группы
Организационные подразделения
Организационная единица
Институт нанотехнологий в электронике, спинтронике и фотонике
Институт ИНТЭЛ занимается научной деятельностью и подготовкой специалистов в области исследования физических принципов, проектирования и разработки технологий создания компонентной базы электроники гражданского и специального назначения, а также построения современных приборов на её основе. ​Наша основная цель – это создание и развитие научно-образовательного центра мирового уровня в области наноструктурных материалов и устройств электроники, спинтроники, фотоники, а также создание эффективной инновационной среды в области СВЧ-электронной и радиационно-стойкой компонентной базы, источников ТГц излучения, ионно-кластерных технологий материалов.​
Выпуск журнала
Аннотация
© 2022 IEEE.The article considers the peculiarities of single event latch-up (SEL) in microelectronic devices under space high-energy particles irradiation and shows the limitations and risks of the usage of circuit-based SEL protection in space electronics. Different parameters of multiple thyristor structures in common IC chip and fixed threshold current of SEL suppressor circuit lead to a possibility not to detect some of many SEL events under ion irradiation and increase the risk of hard error due to SEL. Several salvations of this problem are discussed in the paper.
Описание
Ключевые слова
Цитирование
Yanenko, A. Qualitative Risk Assessment in the Application of Circuit-based Protection Against SEL in Space Electronics / Yanenko, A. // Moscow Workshop on Electronic and Networking Technologies, MWENT 2022 - Proceedings. - 2022. - 10.1109/MWENT55238.2022.9802351
Коллекции