Publication:
Методики экспериментальных исследований многократных сбоев в КМОП микросхемах статических оперативных запоминающих устройств при воздействии отдельных ядерных частиц

Дата
2014
Авторы
Journal Title
Journal ISSN
Volume Title
Издатель
НИЯУ МИФИ
Научные группы
Организационные подразделения
Организационная единица
Другие подразделения НИЯУ МИФИ
Структурные подразделения НИЯУ МИФИ, не включенные в состав институтов и факультетов.
Выпуск журнала
Аннотация
Описание
автореф. дис. ... кандидата техн. наук: 05.13.05
Ключевые слова
Автор МИФИ , Микросхемы , Ядерные частицы , Запоминающие устройства , 05.13.05 - элементы и устройства вычислительной техники и систем управления
Цитирование
Боруздина, А. Б. Методики экспериментальных исследований многократных сбоев в КМОП микросхемах статических оперативных запоминающих устройств при воздействии отдельных ядерных частиц : автореф. дис. ... кандидата техн. наук: 05.13.05 / А. Б. Боруздина ; рук. работы А. В. Уланова ; [Место защиты: Нац. исслед. ядерный ун-т "МИФИ"]. - Москва : НИЯУ МИФИ, 2014. - 24 с.