Publication:
ОЦЕНКА ПРОНИКНОВЕНИЯ РАСПЫЛЕННЫХ ОТРИЦАТЕЛЬНЫХ ИОНОВ В ПЛАЗМУ ТЯР

Дата
2014
Авторы
СИНЕЛЬНИКОВ, Д. Н.
ТРУФАНОВ, Д. А.
КУРНАЕВ, В. А.
Journal Title
Journal ISSN
Volume Title
Издатель
НИЯУ МИФИ
Научные группы
Организационные подразделения
Организационная единица
Институт лазерных и плазменных технологий
Стратегическая цель Института ЛаПлаз – стать ведущей научной школой и ядром развития инноваций по лазерным, плазменным, радиационным и ускорительным технологиям, с уникальными образовательными программами, востребованными на российском и мировом рынке образовательных услуг.
Выпуск журнала
Аннотация
При взаимодействии плазмы с материалами первой стенки ТЯР из поверхности выбиваются распыленные частицы: нейтралы, положительно и отрицательно заряженные ионы. Энергия распыленных частиц ~5 эВ, поэтому те из них, которые заряжены положительно, возвращаются на поверхность из-за тормозящего электрического поля между плазмой и стенкой (см. рис. 1), в то время как нейтралы, не ионизованные электронами в скреп слое, могут попасть в основную плазму. Загрязнение плазмы за счет распыленных нейтралов хорошо известно [1] и учитывается в большинстве компьютерных кодов, описывающих взаимодействие плазмы с поверхностью. Отрицательные же ионы сначала ускоряются в пристеночном слое и лишь затем нейтрализуются, поэтому в зависимости от их энергии и направления магнитного поля по отношению к поверхности в некоторых случаях могут заведомо глубже проникать в плазму, чем нейтральные атомы.
Описание
Ключевые слова
Конференции НИЯУ МИФИ
Цитирование
СИНЕЛЬНИКОВ Д.Н. ОЦЕНКА ПРОНИКНОВЕНИЯ РАСПЫЛЕННЫХ ОТРИЦАТЕЛЬНЫХ ИОНОВ В ПЛАЗМУ ТЯР [Текст.] / СИНЕЛЬНИКОВ Д.Н., ТРУФАНОВ Д.А., КУРНАЕВ В.А. // Взаимодействие плазмы с поверхностью: сборник научных трудов XVII конференции. - 2014. - C. 65-68