Publication:
Searching The Damaged Area on IC Chip Using Ionization Response Mapping

Дата
2021
Авторы
Savchenkov, D. V.
Davydov, G. G.
Yanenko, A. V.
Journal Title
Journal ISSN
Volume Title
Издатель
Научные группы
Организационные подразделения
OrgUnit Logo
Организационная единица
Институт нанотехнологий в электронике, спинтронике и фотонике
Институт ИНТЭЛ занимается научной деятельностью и подготовкой специалистов в области исследования физических принципов, проектирования и разработки технологий создания компонентной базы электроники гражданского и специального назначения, а также построения современных приборов на её основе. ​Наша основная цель – это создание и развитие научно-образовательного центра мирового уровня в области наноструктурных материалов и устройств электроники, спинтроники, фотоники, а также создание эффективной инновационной среды в области СВЧ-электронной и радиационно-стойкой компонентной базы, источников ТГц излучения, ионно-кластерных технологий материалов.​
OrgUnit Logo
Организационная единица
Институт интеллектуальных кибернетических систем
Цель ИИКС и стратегия развития - это подготовка кадров, способных противостоять современным угрозам и вызовам, обладающих знаниями и компетенциями в области кибернетики, информационной и финансовой безопасности для решения задач разработки базового программного обеспечения, повышения защищенности критически важных информационных систем и противодействия отмыванию денег, полученных преступным путем, и финансированию терроризма.
Выпуск журнала
Аннотация
A method is described for localizing damaged areas on IC chip using ionization response maps. The method can provide some essential information to IC designers to help them improve its resistance to failures. © 2021 IEEE.
Описание
Ключевые слова
Damaged area , Ionization response map , Photovoltaic mode
Цитирование
Savchenkov, D. V. Searching The Damaged Area on IC Chip Using Ionization Response Mapping / Savchenkov, D.V., Davydov, G.G., Yanenko, A.V. // RADECS 2021 - European Conference on Radiation and its Effects on Components and Systems. - 2021. - 10.1109/RADECS53308.2021.9954499
URI
https://www.doi.org/10.1109/RADECS53308.2021.9954499
 https://www.scopus.com/record/display.uri?eid=2-s2.0-85143900782&origin=resultslist
 https://openrepository.mephi.ru/handle/123456789/25428
Коллекции
Публикации