Publication: Применение ионизирующего излучения для ускоренных испытаний на надежность МОП интегральных микросхем
Дата
2013
Авторы
Чжо, Ко Вин
Journal Title
Journal ISSN
Volume Title
Издатель
НИЯУ МИФИ
Аннотация
Описание
автореф. дис... кандидата техн. наук (05.27.01 - твердотельная электроника, радиоэлектронные компоненты, микро- и наноэлектроника, приборы на квантовых эффектах)
Ключевые слова
Автор МИФИ , Транзисторы , МОП , Интегральные микросхемы , Излучения , Ионизимрующие излучения , 05.27.01 - твердотельная электроника, радиоэлектронные компоненты, микро- и наноэлектроника, приборы на квантовых эффектах
Цитирование
Чжо, К. В. Применение ионизирующего излучения для ускоренных испытаний на надежность МОП интегральных микросхем : автореф. дис... кандидата техн. наук (05.27.01 - твердотельная электроника, радиоэлектронные компоненты, микро- и наноэлектроника, приборы на квантовых эффектах) / Чжо Ко Вин ; рук. работы В. Д. Попов. - Москва : НИЯУ МИФИ, 2013. - 21 с.