Publication:
A New Approach of Simulating Low-Dose-Rate Radiation Effects in Bipolar Integrated Circuits

Дата
2024
Авторы
Chumakov, A. I.
Journal Title
Journal ISSN
Volume Title
Издатель
Научные группы
Организационные подразделения
OrgUnit Logo
Организационная единица
Другие подразделения НИЯУ МИФИ
Структурные подразделения НИЯУ МИФИ, не включенные в состав институтов и факультетов.
Выпуск журнала
Аннотация
Описание
Ключевые слова
Цитирование
Chumakov, A. I. A New Approach of Simulating Low-Dose-Rate Radiation Effects in Bipolar Integrated Circuits / Chumakov, A.I. // Russian Microelectronics. - 2024. - 53. - № 2. - P. 154-160. - 10.1134/S1063739723600966
URI
https://www.doi.org/10.1134/S1063739723600966
 https://www.scopus.com/record/display.uri?eid=2-s2.0-85195408346&origin=resultslist
 https://openrepository.mephi.ru/handle/123456789/26045
Коллекции
Публикации