Publication:
Single Event Displacement Effects in a VLSI

Дата
2023
Авторы
Chumakov, A. I.
Journal Title
Journal ISSN
Volume Title
Издатель
Научные группы
Организационные подразделения
OrgUnit Logo
Организационная единица
Другие подразделения НИЯУ МИФИ
Структурные подразделения НИЯУ МИФИ, не включенные в состав институтов и факультетов.
Выпуск журнала
Аннотация
Описание
Ключевые слова
Цитирование
Chumakov, A. I. Single Event Displacement Effects in a VLSI / Chumakov, A. I. // Russian Microelectronics. - 2023. - 52. - № 4. - P. 260-266. - 10.1134/S1063739723700427
URI
https://www.doi.org/10.1134/S1063739723700427
 https://www.scopus.com/record/display.uri?eid=2-s2.0-85173628633&origin=resultslist
 https://openrepository.mephi.ru/handle/123456789/29339
Коллекции
Публикации