Publication: Расшифровка кристаллической структуры материала по дифракционному спектру методом Ритвельда
Дата
2019
Авторы
Исаенкова, М. Г.
Крымская, О. А.
Перлович, Ю. А.
Journal Title
Journal ISSN
Volume Title
Издатель
НИЯУ МИФИ
Аннотация
фракционному спектру методом Ритвельда» по дисциплинам «Структура и свойства наноматериалов и сложных соединений», «Современные представления о структуре материалов», «Физические основы дифракционных методов и структура материалов» знакомит студентов с методом восстановления структуры исследуемого вещества, широко используемым мировым научным сообществом при расшифровке дифракционных спектров порошковых материалов, и способами описания структурного состояния поликристаллического материала, определяемого профилем рентгеновской линии. В ходе выполнения работы и подготовки к защите полученных результатов студенты знакомятся с основными понятиями, физическими принципами методов рентгеноструктурного анализа, этапами определения характеристик структуры поликристаллических материалов; выполняют необходимые экспериментальные процедуры на рентгеновском дифрактометре, определяют характеристики рентгеновских линий, рассчитывают параметры элементарных ячеек, размеры блоков когерентного рассеяния и величину упругих микродеформаций для различных материалов. Учебное пособие содержит практические указания по выполнению лабораторной работы и контрольные вопросы для ее сдачи. Предназначено для студентов НИЯУ МИФИ, обучающихся по направлениям «Технологии разделения изотопов и ядерное топливо», «Материаловедение и технологии материалов» и «Ядерные физика и технологии».
Описание
Ключевые слова
Учебное пособие , Анализ структурного состояния , Метод ритвельда , Рентгеновский дифрактомер , Учебное издание , Учебники ИЯФИТ , ИЯФИТ
Цитирование
Исаенкова, М. Г. Расшифровка кристаллической структуры материала по дифракционному спектру методом Ритвельда : лабораторная работа / М.Г. Исаенкова, О.А. Крымская, Ю.А. Перлович. - Москва : НИЯУ МИФИ, 2019. - 32 с.