Publication:
Effect of Operating Mode of the Input-Output Ports of Complex Functional Devices on Indicators of the Pulsed Electric Strength of the Product

Дата
2020
Journal Title
Journal ISSN
Volume Title
Издатель
Научные группы
Организационные подразделения
Организационная единица
Другие подразделения НИЯУ МИФИ
Структурные подразделения НИЯУ МИФИ, не включенные в состав институтов и факультетов.
Организационная единица
Институт нанотехнологий в электронике, спинтронике и фотонике
Институт ИНТЭЛ занимается научной деятельностью и подготовкой специалистов в области исследования физических принципов, проектирования и разработки технологий создания компонентной базы электроники гражданского и специального назначения, а также построения современных приборов на её основе. ​Наша основная цель – это создание и развитие научно-образовательного центра мирового уровня в области наноструктурных материалов и устройств электроники, спинтроники, фотоники, а также создание эффективной инновационной среды в области СВЧ-электронной и радиационно-стойкой компонентной базы, источников ТГц излучения, ионно-кластерных технологий материалов.​
Выпуск журнала
Аннотация
© 2020, Pleiades Publishing, Ltd.Abstract: We test the durability of the simplest AVR ATtiny13A microcontroller (from Atmel) to the effects of single voltage pulses depending on the input-output port configuration. The dependence of the impulse electric strength of the microcontroller on the operation mode of the ports is discovered.
Описание
Ключевые слова
Цитирование
Shemonaev, A. N. Effect of Operating Mode of the Input-Output Ports of Complex Functional Devices on Indicators of the Pulsed Electric Strength of the Product / Shemonaev, A.N., Epifantsev, K.A., Skorobogatov, P.K. // Russian Microelectronics. - 2020. - 49. - № 2. - P. 145-149. - 10.1134/S1063739720010126
Коллекции