Publication:
ВЛИЯНИЕ ФОРМЫ ПОТЕНЦИАЛЬНОЙ ЯМЫ ДЕФЕКТОВ НА КРИТИЧЕСКИЙ ТОК И N-VALUE ВЫСОКОТЕМПЕРАТУРНОГО СВЕРХПРОВОДНИКА

Научные группы
Организационные подразделения
Организационная единица
Институт лазерных и плазменных технологий
Стратегическая цель Института ЛаПлаз – стать ведущей научной школой и ядром развития инноваций по лазерным, плазменным, радиационным и ускорительным технологиям, с уникальными образовательными программами, востребованными на российском и мировом рынке образовательных услуг.
Выпуск журнала
Аннотация
Методом Монте-Карло исследовано влияние формы потенциальной ямы дефектов на пиннинг вихрей Абрикосова и транспортные свойства высокотемпературного сверхпроводника. Показано, что изменение эффективной ширины дефекта существенно влияет на критический ток и показатель n-value вольт-амперной характеристики. С ростом ширины дефекта от сотых долей до десятков длин когерентности критический ток ступенчато увеличивается до насыщения, а n-value меняется немонотонно из-за роста подвижности вихрей на уширенных дефектах. Анализ вихревых конфигураций выявил оптимальный диапазон ширины ямы (от одной до десяти длин когерентности), обеспечивающий максимальные транспортные характеристики материала.
Описание
Ключевые слова
n-value , Критический ток , Вихри Абрикосова , Пиннинг , ВТСП
Цитирование
ВЛИЯНИЕ ФОРМЫ ПОТЕНЦИАЛЬНОЙ ЯМЫ ДЕФЕКТОВ НА КРИТИЧЕСКИЙ ТОК И N-VALUE ВЫСОКОТЕМПЕРАТУРНОГО СВЕРХПРОВОДНИКА / Мороз А. Н. // Краткие сообщения по физике ФИАН. - 2026. - 53, 2. - С. 35-45
Коллекции