Publication:
Extreme Value Based Estimation of Critical Single Event Failure Probability

Файлы
1909.07804v1.pdf(311.68 KB)
Дата
2019
Авторы
Galimov, A. M.
Fateev, I. A.
Zebrev, G. I.
Useinov, R. G.
Journal Title
Journal ISSN
Volume Title
Издатель
Научные группы
Организационные подразделения
OrgUnit Logo
Организационная единица
Институт нанотехнологий в электронике, спинтронике и фотонике
Институт ИНТЭЛ занимается научной деятельностью и подготовкой специалистов в области исследования физических принципов, проектирования и разработки технологий создания компонентной базы электроники гражданского и специального назначения, а также построения современных приборов на её основе. ​Наша основная цель – это создание и развитие научно-образовательного центра мирового уровня в области наноструктурных материалов и устройств электроники, спинтроники, фотоники, а также создание эффективной инновационной среды в области СВЧ-электронной и радиационно-стойкой компонентной базы, источников ТГц излучения, ионно-кластерных технологий материалов.​
Выпуск журнала
Аннотация
© 2019 IEEE.A new survival probability function of ICs under space ion impact is proposed. Unlike the conventional approach, the function is based on the extreme value statistics which is relevant to the critical single event effects.
Описание
Ключевые слова
Цитирование
Extreme Value Based Estimation of Critical Single Event Failure Probability / Galimov, A.M. [et al.] // 2019 19th European Conference on Radiation and Its Effects on Components and Systems, RADECS 2019. - 2019. - 10.1109/RADECS47380.2019.9745677
URI
https://www.doi.org/10.1109/RADECS47380.2019.9745677
 https://www.scopus.com/record/display.uri?eid=2-s2.0-85128514867&origin=resultslist
 http://gateway.webofknowledge.com/gateway/Gateway.cgi?GWVersion=2&SrcAuth=Alerting&SrcApp=Alerting&DestApp=WOS_CPL&DestLinkType=FullRecord&UT=WOS:000848160100051
 https://openrepository.mephi.ru/handle/123456789/19647
Коллекции
Публикации