Персона:
Алеев, Андрей Аскольдович

Profile Picture
Email Address
Birth Date
Научные группы
Организационные подразделения
OrgUnit Logo
Организационная единица
Институт ядерной физики и технологий
Цель ИЯФиТ и стратегия развития - создание и развитие научно-образовательного центра мирового уровня в области ядерной физики и технологий, радиационного материаловедения, физики элементарных частиц, астрофизики и космофизики.
Статус
Фамилия
Алеев
Имя
Андрей Аскольдович
Имя

Фильтры

2020 - 20212
2
2
Сброс фильтров

Настройки

Результаты поиска

Теперь показываю 1 - 2 из 2
  • Уменьшенное изображение
    Публикация
    Только метаданные
    Study of Silicon and the Transition Layer between Titanium and Titanium Oxide by Laser-Assisted Atom Probe Tomography
    (2020) Raznitsyna, I. A.; Raznitsyn, O. A.; Lukyanchuk, A. A.; Shutov, A. S.; Khomich, A. A.; Khoroshilov, V. V.; Nikitin, A. A.; Aleev, A. A.; Rogozhkin, S. V.; Разницын, Олег Анатольевич; Лукьянчук, Антон Алексеевич; Шутов, Антон Сергеевич; Никитин, Александр Александрович; Алеев, Андрей Аскольдович; Рогожкин, Сергей Васильевич
    © 2020, Pleiades Publishing, Ltd.Abstract: Monitoring the characteristics of nanoscale objects is a necessary step in the development of new materials and complex low-dimensional systems. Atom-probe tomography is among the few methods that allow one to study nanoscale objects with a complex chemical composition. However, preliminary optimization of the instrument parameters is necessary for each speciment to obtain the most accurate characteristics of the materials. In this study, the results of optimization of conditions for the analysis of silicon and the titanium–titanium-oxide transition layer on a APPLE-3D atom-probe tomograph with the purpose of refining the atom-probe-tomography technique for metal–semiconductor structures are presented. The optimal laser-pulse power for studying mixtures of these materials is determined. The atomic structure of the titanium–titanium-oxide interface layer is visualized, and the concentration profiles of evaporated Ti and TiOx ions in the transition layer are obtained.
  • Уменьшенное изображение
    Публикация
    Только метаданные
    Influence of Type and Configuration of the Atom Probe Tomography Setup with Laser Evaporation on the Data Reconstruction Accuracy
    (2021) Butov, N. A.; Rudskoy, B. V.; Akopyan, T. K.; Lukyanchuk, A. A.; Raznitsyn, O. A.; Shutov, A. S.; Aleev, A. A.; Klauz, A. V.; Rogozhkin, S. V.; Лукьянчук, Антон Алексеевич; Разницын, Олег Анатольевич; Шутов, Антон Сергеевич; Алеев, Андрей Аскольдович; Клауз, Артём Вадимович; Рогожкин, Сергей Васильевич
    © 2021, Pleiades Publishing, Ltd.Abstract: Atom probe tomography (APT) is a tool for detailed chemical composition analysis of advanced structural material nanostructure. The use of different Atomic Probe Tomography (APT) devices requires a certification of these setups prior to conducting research. In this paper a method of comparing APT setups in order to evaluate the influence of the overall system configuration on the accuracy of obtained data is proposed. The collected data comparison is presented for the aluminum alloy Al–3.3Cu–2.5Mn–0.5Zr and structural steel 16Kh12МVSFBR gathered on the APPLE-3D (“PAZL-3D”) setup and on the new ATLAS (“ATLAZ”) unit, created through upgrading the ECOTAP. Comparison of the results confirms the feasibility of carrying out research of the same material on similar setups without significant distortion of the data under its analysis and interpretation.