Персона: Решетов, Владимир Николаевич
Email Address
Birth Date
Научные группы
Организационные подразделения
Статус
Фамилия
Имя
Имя
Результаты поиска
3D push–pull heterodyne interferometer for SPM metrology
2019, Kazieva, T. V., Gubskiy, K. L., Kuznetsov, A. P., Reshetov, V. N., Казиева, Татьяна Вадимовна, Губский, Константин Леонидович, Кузнецов, Андрей Петрович, Решетов, Владимир Николаевич
© 2019 Optical Society of America.A three-coordinate heterodyne laser interferometer has been developed to measure the displacement of the probe microscope scanner with a subnanometer resolution that provides traceability of measurements to the standard of meter through the wavelength of a stabilized He–Ne laser. Main sources of errors are investigated, and their influence is minimized so that the resulting measurement uncertainty of the system does not exceed 0.2 nm, and the resolution is 0.01 nm. The investigation of metrological characteristics of the three-coordinate interferometer was carried out with a scanning probe microscopy (SPM) NanoScan-3D using TGZ-type calibration gratings. The values measured with SPM fell within the 95% confidence interval given by Physikalisch-Technische Bundesanstalt (PTB) (Germany). SPM equipped with a laser interferometer was used to measure the characteristics of dynamic etalons of geometric dimensions.
Raman spectroscopy through the indenter working as an optical objective
2019, Maslenikov, I. I., Useinov, A. S., Reshetov, V. N., Решетов, Владимир Николаевич
© 2019 The Japan Institute of Metals and MaterialsThe transparent indenter which can used as an optical objective were tested to obtained a spectra during the indentation. A special device which comprises the transparent indenter and actuator was developed and embedded into the Raman spectrometer. An indentation into the silicon sample was performed and phases that exist under the load and without it were identified.
Динамический наноиндентор
2024, Красногоров, И. В., Русаков, А. А, Решетов, В. Н., Решетов, Владимир Николаевич
Изобретение относится к области использования устройств, осуществляющих измерения механических свойств материалов путем контролируемого по глубине и нагрузке вдавливания твердого наконечника в тестируемый материал. Динамический наноиндентор включает корпус 1, внутри которого закреплены электромагнитный актюатор 2 с подвижной катушкой 3, связанной через промежуточный шток 4, рабочий шток 10 с индентором 15 на его конце, емкостные датчики, между которыми установлена на упругих подвесах 6 и 13 силовая ячейка 7, предметный столик 20 для тестируемого материала 21. Предметный столик 20 выполнен в виде пьезокерамической пластины с металлическими электродами 11 для подачи на пьезокерамическую пластину переменного управляющего электрического напряжения от 0,1 до 100 В и частотой от 0,01 Гц до 100 кГц. Пьезокерамическая пластина выполнена толщиной от 0,1 мм до 10 мм и площадью от 1 см2 до 10 см2 и закреплена на двухкоординатном макропозиционере 16. Технический результат - возможность регистрации сигналов акустической эмиссии и повышение точности измерения твердости и модуля Юнга, вязкоупругих и хрупких свойств тестируемого материала. 4 з.п. ф-лы, 8 ил.