2024, Ефимов, Н. Е., Синельников, Д. Н., Гришаев, М. В., Гаспарян, Ю. М., Ефимов, В. С., Крат, С. А., Гаспарян, Юрий Микаэлович, Ефимов, Никита Евгеньевич, Гришаев, Максим Валерьевич, Синельников, Дмитрий Николаевич

В работе проведено сравнение сигналов лазерно-ассистированной масс-спектрометрии для двух длительностей лазерных импульсов (15 нс и 80 пс) на примере дейтерированных вольфрамовых пленок и образцов титан−ванадиевого сплава. Представлена методика подготовки насыщенных дейтерием образцов, обеспечивающая хорошо повторяющийся во времени выход дейтерия при нескольких последовательных выстрелах лазером, что может быть использовано для юстировки диагностической системы. Получена экспериментальная зависимость интегрального выхода дейтерия из исследуемых материалов от плотности энергии в импульсе. Продемонстрирована высокая чувствительность методики, а также слабая зависимость от длительности импульса лазерного излучения. Отмечено значительное изменение концентрации дейтерия в приповерхностном слое вольфрамовой пленки в ходе контакта с атмосферой.

2023, Никитин, И. А., Синельников, Д. Н., Ефимов, Н. Е., Гришаев, М. В., Гришаев, Максим Валерьевич, Никитин, Иван Андреевич, Ефимов, Никита Евгеньевич, Синельников, Дмитрий Николаевич

Программа предназначена для элементного анализа образцов на основе энергетических спектров, полученных методом спектроскопии рассеяния и выбивания ионов. В качестве входных параметров вводятся энергия диагностического пучка, атомный номер налетающей частицы и предполагаемых частиц поверхности, а также геометрия рассеяния. Программа рассчитывает положения пиков, соответствующих элементам поверхности, на энергетическом спектре, а также сечения взаимодействия на основе экранированных кулоновских потенциалов (Kr-C, TFM, ZBL), необходимых для определения концентраций элементов. Область применения: научные и производственные ионно-пучковые установки анализа поверхности с энергиями частиц от 100 эВ до 100 кэВ. Тип ЭВМ: IBM PC - совмест. ПК; ОС: Windows ХР/7/10/11.

2023, Лобанова, Л. Г., Афанасьев, В. П., Гришаев, М. В., Ефимов, Н. Е., Никитин, И. А., Синельников, Д. Н., Синельников, Дмитрий Николаевич, Никитин, Иван Андреевич, Ефимов, Никита Евгеньевич, Гришаев, Максим Валерьевич

Calculation method of reflected from layered inhomogeneous solids light ions density fluxes is constructed. The method is based on analytically calculated and experimentally received reflection functions from homogeneous solids. Transmission function is calculated in Fokker-Plank approximation. Analytical results are verified on a base on comparison with experimental results.

2024, Никитин, И. А., Синельников, Д. Н., Гришаев, М. В., Ефимов, Н. Е., Ефимов, Никита Евгеньевич, Гришаев, Максим Валерьевич, Никитин, Иван Андреевич, Синельников, Дмитрий Николаевич

Программа «ISInCa.jar» предназначена для формирования интегральных (коэффициенты рассеяния, распыления, внедрения и прохождения) и дифференциальных (угловых и энергетических распределений и карт) характеристик для произвольных углов регистрации и сортов частиц на основе результатов Монте-Карло расчётов взаимодействия атомов с поверхностью твёрдого тела в приближении последовательных парных соударений. Программа осуществляет расчёт коэффициентов и спектров, их визуализацию и сохранение сформированных данных в текстовые файлы. Область применения – научные и технологические ионно-пучковые и плазменные установки с энергиями частиц от 100 эВ до 100 кэВ. Работа выполнена при поддержке Министерство науки и высшего образования Российской Федерации проект №075-03-2024-096 от 18.01.2024. Тип ЭВМ: IBM PC совместимый компьютер; ОС: MS Windows XP, 7, 10, 11; Linux Ubuntu (LTS версия (18.04/20.04/22.04/24.04)), Linux (Debian, CentOS, Astra Linux, RedOS, Arch, Gentoo).