Персона:
Котов, Владислав Николаевич

Profile Picture
Email Address
Birth Date
Научные группы
Организационные подразделения
OrgUnit Logo
Организационная единица
Другие подразделения НИЯУ МИФИ
Структурные подразделения НИЯУ МИФИ, не включенные в состав институтов и факультетов.
Статус
Фамилия
Котов
Имя
Владислав Николаевич
Имя

Фильтры

20211
1
1
Сброс фильтров

Настройки

Тема: Displacement damage effects ×

Результаты поиска

Теперь показываю 1 - 1 из 1
Уменьшенное изображение
Публикация
Только метаданные

Characterization of the Effects of Neutron-Induced Displacement Damage on the SiGe:C Heterojunction Bipolar Transistors

2021, Sotskov, D. I., Kuznetsov, A. G., Elesin, V. V., Selishchev, I. A., Kotov, V. N., Nikiforov, A. Y., Сотсков, Денис Иванович, Кузнецов, Александр Геннадьевич, Елесин, Вадим Владимирович, Котов, Владислав Николаевич, Никифоров, Александр Юрьевич

This paper explores the effects of neutron-induced displacement damage on static and high frequency parameters of three types of SiGe: npn heterostructure bipolar transistors from the SGB25V BiCMOS technology. © 2021 IEEE.

Просмотр