(НИЯУ МИФИ, 2020) ЕФИМОВ, Н. Е.; БУЛГАДАРЯН, Д. Г.; СИНЕЛЬНИКОВ, Д. Н.; КУРНАЕВ, В. А.; Синельников, Дмитрий Николаевич; Ефимов, Никита Евгеньевич
В НИЯУ МИФИ проводятся исследования применения спектроскопии рассеяния протонов кэвных энергий для анализа тонких слоев кандидатных материалов ОПЭ [1–3]. Особенностью материалов, используемых в настоящее время в термоядерных установках, является большая разница в атомном номере материала, используемого для дивертора (вольфрам), и материалов с малым атомным номером, применяемым для кондиционирования первой стенки. Большая разница атомных номеров осаждаемых на подложку слоев прекрасно соответствует аналитическим возможностям применения протонов кэвных энергий, так как в этом случае толщину напыленных слоев можно определять с высокой точностью по энергетическим спектрам отраженных ионов [3].