Publication:
ОСОБЕННОСТИ ПОВТОРНОГО ОБНАРУЖЕНИЯ ДЕФЕКТОВ МЕТОДОМ СКАНИРУЮЩЕЙ КОНТАКТНОЙ ПОТЕНЦИОМЕТРИИ

Простая страница элемента
dc.contributor.authorАлвахеба, А. И.
dc.contributor.authorБекетов, В. Г.
dc.contributor.authorДембицкий, А. Е.
dc.contributor.authorСурин, В. И.
dc.date.accessioned2024-10-29T08:32:40Z
dc.date.available2024-10-29T08:32:40Z
dc.date.issued2024
dc.description.abstractКонтакт между сканирующим датчиком и поверхностью образца играет жизненно важную роль, поскольку диагностический сигнал является результатом низкочастотных волн механических напряжений, излучаемых дефектами в сварном соединении. Последние исследования показывают, что напряженность электрического поля, возникающая из-за неоднородной электронной плотности, также играет важную роль в формировании сигнала.
dc.identifier.citationОСОБЕННОСТИ ПОВТОРНОГО ОБНАРУЖЕНИЯ ДЕФЕКТОВ МЕТОДОМ СКАНИРУЮЩЕЙ КОНТАКТНОЙ ПОТЕНЦИОМЕТРИИ [Text.]./Алвахеба А. И. [et al.].//Безопасность ядерной энергетики: тезисы докладов XX Международной научно-практической конференции. - 2024. - С. 9-10
dc.identifier.urihttps://openrepository.mephi.ru/handle/123456789/15875
dc.publisherВИТИ НИЯУ МИФИ
dc.subjectНеразрушающий контроль сварных соединений
dc.subjectЭлектрофизический неразрушающий контроль
dc.subjectСканирующая контактная потенциометрия
dc.subjectКонференции НИЯУ МИФИ
dc.titleОСОБЕННОСТИ ПОВТОРНОГО ОБНАРУЖЕНИЯ ДЕФЕКТОВ МЕТОДОМ СКАНИРУЮЩЕЙ КОНТАКТНОЙ ПОТЕНЦИОМЕТРИИ
dc.typeArticle
dspace.entity.typePublication
relation.isOrgUnitOfPublicationd74e58e3-d53b-4339-8c88-7788a7a4ec9b
relation.isOrgUnitOfPublication.latestForDiscoveryd74e58e3-d53b-4339-8c88-7788a7a4ec9b
Файлы
Original bundle
Теперь показываю 1 - 1 из 1
Уменьшенное изображение
Name:
стр. 9-10.pdf
Size:
846.37 KB
Format:
Adobe Portable Document Format
Description:
Download
License bundle
Теперь показываю 1 - 1 из 1
Уменьшенное изображение
Name:
license.txt
Size:
3.45 KB
Format:
Item-specific license agreed to upon submission
Description:
Download
Коллекции
2024_Безопасность ядерной энергетики