Publication: БЕЗМОДЕЛЬНАЯ ОБРАБОТКА ДАННЫХ МИКРОТОКОВ ДИОДОВ, ЗАДАННЫХ В ВИДЕ БЕСТРЕНДОВЫХ ПОСЛЕДОВАТЕЛЬНОСТЕЙ (Селекция диодов по критерию соответствия эталонной группе)
Дата
2025
Авторы
Нигматуллин, Р. Р.
Сагдиев, Р. К.
Ткачук, М. В.
Journal Title
Journal ISSN
Volume Title
Издатель
НИЯУ МИФИ
Аннотация
В статье предлагается простой критерий отделения «эталонных» (своих) диодов (ЭД) от дефектных («чужих») диодов (ДД), имеющих тот или иной дефект, например, возникший в процессе их производства. Предлагаемый критерий опирается на анализ «эталонных» распределений размахов, которые получаются в результате их вычислений по большому массиву измерений микротоков, получаемых для каждого диода. Если параметры группы ЭД образуют некоторую совокупность, то объединение всех размахов параметров образует некоторую ограниченную сверху и снизу область (эту область в которой вертикальные линии специально не выделены, в силу их очевидности, можно определить как прямоугольник доверия) (ПДЭД), которая и служит своеобразным критерием для отделения тестируемых диодов (близких по своим характеристикам к ЭД) от ДД. Согласно этому критерию, прямоугольник параметров дефектных диодов (ППДД) должен образовать свою область, непересекающуюся или пересекающуюся лишь частично с ПДЭД. Такое поведение позволяет выявить различия в поведении дефектных диодов и решить основную задачу «свой-чужой», опираясь на параметры «своего» изделия (объекта) и отличить его по набору предлагаемых параметров от «чужого» (тестируемого) изделия. Группа тестируемых диодов (ТД) образует свой прямоугольник параметров – каждый ППТД может пересекать ПДЭД в различной степени. Эту степень пересечения можно оценить по внешним корреляциям. Если отношение площадей ППТД/ПДЭД попадает в заданный интервал (определяемый оператором), то такие диоды можно считать близкими к набору ЭД и прошедшими тест. Остальные тестируемые диоды, выпадающие из заданного интервала, отбраковываются. Границы интервала могут быть согласованы заранее и зависят от специфики производства. Предлагаемый метод носит достаточно общий характер и может быть применен не только к диодам (взятым в качестве примера), но и к разнообразным классам ЭКБ и другим устройствам. Метод проверен на группе диодов, которая была разделена на три подгруппы: (а) эталонные диоды, (b) дефектные диоды (причем эти дефекты были созданы заранее) и (с) тестируемые диоды (возможные дефекты которых были заранее неизвестны).
Описание
Ключевые слова
Последовательность ранжированных амплитуд , Бестрендовые последовательности , Случайные флуктуации , Прямоугольник параметров , Прямоугольник доверия , Тестируемые диоды , Дефектные диоды , Эталонные диоды
Цитирование
Нигматуллин, Равиль Р.; Сагдиев, Рафаэль К.; Ткачук, Михаил В. Безмодельная обработка данных микротоков диодов, заданных в виде бестрендовых последовательностей (Селекция диодов по критерию соответствия эталонной группе). Безопасность информационных технологий, [S.l.], т. 32, № 2, с. 131–141, 2025. ISSN 2074-7136. URL: https://bit.spels.ru/index.php/bit/article/view/1773. DOI: 10.26583/bit.2025.2.10.