Publication:
Two-Stage Alignment of FIB-SEM Images of Rock Samples

Файлы
W3091874918.pdf(12.42 MB)
Дата
2020
Авторы
Reimers, I.
Safonov, I.
Kornilov, A.
Yakimchuk, I.
Journal Title
Journal ISSN
Volume Title
Издатель
Научные группы
Организационные подразделения
OrgUnit Logo
Организационная единица
Институт общей профессиональной подготовки (ИОПП)
Миссией Института является: фундаментальная базовая подготовка студентов, необходимая для получения качественного образования на уровне требований международных стандартов; удовлетворение потребностей обучающихся в интеллектуальном, культурном, нравственном развитии и приобретении ими профессиональных знаний; формирование у студентов мотивации и умения учиться; профессиональная ориентация школьников и студентов в избранной области знаний, формирование способностей и навыков профессионального самоопределения и профессионального саморазвития. Основными целями и задачами Института являются: обеспечение высококачественной (фундаментальной) базовой подготовки студентов бакалавриата и специалитета; поддержка и развитие у студентов стремления к осознанному продолжению обучения в институтах (САЕ и др.) и на факультетах Университета; обеспечение преемственности образовательных программ общего среднего и высшего образования; обеспечение высокого качества довузовской подготовки учащихся Предуниверситария и школ-партнеров НИЯУ МИФИ за счет интеграции основного и дополнительного образования; учебно-методическое руководство общеобразовательными кафедрами Института, осуществляющими подготовку бакалавров и специалистов по социо-гуманитарным, общепрофессиональным и естественнонаучным дисциплинам, обеспечение единства требований к базовой подготовке студентов в рамках крупных научно-образовательных направлений (областей знаний).
Выпуск журнала
Аннотация
Focused Ion Beam Scanning Electron Microscopy (FIB-SEM) tomography provides a stack of images that represent serial slices of the sample. These images are displaced relatively to each other, and an alignment procedure is required. Traditional methods for alignment of a 3D image are based on a comparison of two adjacent slices. However, such algorithms are easily confused by anisotropy in the sample structure or even experiment geometry in the case of porous media. This may lead to significant distortions in the pore space geometry, if there are no stable fiducial marks in the frame. In this paper, we propose a new method, which meaningfully extends existing alignment procedures. Our technique allows the correction of random misalignments between slices and, at the same time, preserves the overall geometrical structure of the specimen. We consider displacements produced by existing alignment algorithms as a signal and decompose it into low and high-frequency components. Final transformations exclude slow variations and contain only high frequency variations that represent random shifts that need to be corrected. The proposed algorithm can operate with not only translations but also with arbitrary affine transformations. We demonstrate the performance of our approach on a synthetic dataset and two real FIB-SEM images of natural rock.
Описание
Ключевые слова
Цитирование
Two-Stage Alignment of FIB-SEM Images of Rock Samples / Reimers, I [et al.] // Journal of Imaging. - 2020. - 6. - № 10. - 10.3390/jimaging6100107
URI
https://www.doi.org/10.3390/jimaging6100107
 https://www.scopus.com/record/display.uri?eid=2-s2.0-85118454168&origin=resultslist
 http://gateway.webofknowledge.com/gateway/Gateway.cgi?GWVersion=2&SrcAuth=Alerting&SrcApp=Alerting&DestApp=WOS_CPL&DestLinkType=FullRecord&UT=WOS:000587411500001
 https://openrepository.mephi.ru/handle/123456789/22619
Коллекции
Публикации