Publication:
ДОВЕРЕННОСТЬ ИНТЕГРАЛЬНЫХ СХЕМ: ХАРАКТЕРИСТИКИ И ПРИЧИНЫ ИХ НАРУШЕНИЯ

Дата
2025
Авторы
Мосин, С. Г.
Journal Title
Journal ISSN
Volume Title
Издатель
НИЯУ МИФИ
Научные группы
Организационные подразделения
Выпуск журнала
Выпуск журнала
Аннотация
Основные технологии четвертой промышленной революции (Индустрии 4.0) активно внедряют в различные секторы экономики с формированием платформ критической инфраструктуры (КИ). Разработка аппаратного обеспечения объектов КИ требует использования доверенных интегральных схем (ИС). Существенный рост функциональной и структурной сложности современных ИС, а также нарушение цепочек поставок ИС в силу геополитической обстановки и/или недобросовестной конкуренции приводят к проблеме – нарушению доверенности ИС. Систематизация ошибок и причин их появления – основа построения моделей и разработки методов, отвечающих за выбор соответствующих контрмер для обеспечения доверенности ИС на всех этапах жизненного цикла. Объект представленного исследования – интегральные схемы, как основа аппаратного обеспечения критической инфраструктуры. Предмет исследования – ошибки и причины их возникновения на разных этапах стадий проектирования и производства, влияющие на доверенность ИС. Цель предложенной работы – определить возможные причины нарушения доверенности ИС (ДИС), возникающие на этапах проектирования и производства, классифицировать ошибки и степень их влияния на характеристики ДИС. Выполнена декомпозиция характеристик ДИС на ключевые и обеспечивающие. Предложено отображение систематических, случайных и преднамеренных ошибок на характеристики ДИС Определены причины нарушения ключевых характеристик ДИС
Описание
Ключевые слова
Преднамеренные ошибки , Случайные ошибки , Систематические ошибки , Защищенность , Безопасность , Надежность , Устойчивость , Доверенность интегральных схем
Цитирование
Мосин, Сергей Г. Доверенность интегральных схем: характеристики и причины их нарушения. Безопасность информационных технологий, [S.l.], т. 32, № 2, с. 178–191, 2025. ISSN 2074-7136. URL: https://bit.spels.ru/index.php/bit/article/view/1788. DOI: http://dx.doi.org/10.26583/bit.2025.2.13.
Коллекции