Publication: МЕТОД ВЫЯВЛЕНИЯ ПРОЦЕССОВ ДЕГРАДАЦИИ В ЭЛЕКТРОННЫХ КОМПОНЕНТАХ ПРИ ВОЗДЕЙСТВИИ ПОСЛЕДОВАТЕЛЬНОСТИ ИМПУЛЬСОВ НАПРЯЖЕНИЯ
Дата
2026
Авторы
Шемонаев, А. Н.
Парфенов, Ю. В.
Епифанцев, К. А.
Титов, Б. А.
Чепелев, В. М.
Кессаринский, Л. Н.
Пончаков, М. Ю.
Journal Title
Безопасность информационных технологий
Journal ISSN
Volume Title
Безопасность Информационных Технологий
Издатель
НИЯУ МИФИ
Аннотация
Рассматривается метод оценки показателей стойкости современной электронной компонентой базы к воздействию электрических импульсов напряжения длительностью от нескольких десятков наносекунд до десятков микросекунд. Основой данного метода является выявление процессов деградации в электронных компонентах при воздействии последовательности импульсов напряжения. Результатом практической реализации этого метода является определение пороговой амплитуды электрического импульса, начиная с которой происходит изменение значений параметров-критериев годности изделия до их выхода за установленные нормы. Выявление таких процессов сигнализирует об образовании и накоплении скрытых дефектов в электронных компонентах в процессе воздействия последовательности импульсов напряжения. Метод направлен на повышение воспроизводимости получаемых результатов при оценке показателей стойкости образцов электронных компонентов из разных партий к воздействию импульсов напряжения, а также может быть использован для классификации электронных компонентов в соответствии с уровнями их стойкости. Описаны параметры проводимых экспериментов, способные повлиять на результаты определения порогов деградации, такие как частота следования импульсов напряжения и температура окружающей среды.
Описание
Ключевые слова
Критическая информационная инфраструктура , Интеллектуальная транспортная система , Электронный компонент , Беспилотное транспортное средство , Радиочастотные помехи , Преднамеренные деструктивные электромагнитные воздействия , Катастрофический отказ , Стойкость
Цитирование
Шемонаев, А., Парфенов, Ю., Епифанцев, К., Титов, Б., Чепелев, В., Кессаринский, Л., Пончаков, М. (2026). Метод выявления процессов деградации в электронных компонентах при воздействии последовательности импульсов напряжения. Безопасность информационных технологий, 33(1), 177-193. doi: http://dx.doi.org/10.26583/bit.2026.1.14